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講演抄録/キーワード
講演名 2014-05-23 14:50
X線検査装置における目標画像の周波数領域相関による画像処理の一考察
加藤洋一愛知県立大)・毛利元昭愛知大)・安川 博愛知県立大SIP2014-19 IE2014-19 PRMU2014-19 MI2014-19
抄録 (和) X線検査装置は,高品質が要求されるプリント回路基板の検査で多く利用されている.特に,LSIパッケージに樹脂で封止されたBGAはんだは,X線検査装置による検査が主として用いられる.近年に見られるはんだ接合面の微細化と,LSI構造の多層化により,X線検査は工業製品の品質向上のため必要不可欠であり,その撮影画像はよりいっそうの画質向上が求められる.撮影画像に重畳するノイズを抑制する慣習的な手法は加算平均処理であるが,X線検査時間の増加にクリティカルに影響する.そこで本論では,従来手法よりも加算平均処理の枚数を減らす画像処理技術を提案する.始めに,撮影画像の画質向上のため,参照画像として正常のBGAはんだを予め撮影する.次に,低周波領域において,撮影画像と参照画像のパワースペクトルの相関係数を重みとしたアルファブレンドを行う.最後に実空間に戻すことで画質が向上し,従来手法より加算平均処理の枚数を減らすことができる有効性を考察する. 
(英) X-ray inspection equipment is often used by the inspection of PCB required high quality. Especially BGA solder-bumps sealed by the LSI package resin are mainly inspected by X-ray. In recent years, miniaturization of the solder-bumps and multi-layering of LSI structure make X-ray inspection indispensable because of the improved quality of industrial products, and improvement in image quality is required much more. Although the conventional technique of the noise suppressed on an inspection image is an addition average processing, the increase in X-ray inspection time is influenced critically. So, in the main subject, the image processing technology which reduces the frame number for addition average processing rather than the conventional technique is proposed. At first, a reference image of the integrous BGA solder-bumps is prepared in order to improve quality of an inspection image. Second, in a low-frequency region, alphablend is performed with the correlation coefficient between the power spectrum of an inspection and a reference image. Finally, image quality is improved in real space, and the validity which can reduce the frame number by the proposed technique less than the conventional is examined.
キーワード (和) BGAはんだ / 撮影画像 / 参照画像 / 相関係数 / アルファブレンド / / /  
(英) BGA solder-bump / Inspection image / Reference image / Correlation coefficient / alphaBlend / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 39, SIP2014-19, pp. 99-105, 2014年5月.
資料番号 SIP2014-19 
発行日 2014-05-15 (SIP, IE, PRMU, MI) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SIP2014-19 IE2014-19 PRMU2014-19 MI2014-19

研究会情報
研究会 PRMU MI IE SIP  
開催期間 2014-05-22 - 2014-05-23 
開催地(和) 名古屋工業大学 
開催地(英)  
テーマ(和) 医用画像処理の高度化と統計モデル,社会福祉 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SIP 
会議コード 2014-05-PRMU-MI-IE-SIP 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) X線検査装置における目標画像の周波数領域相関による画像処理の一考察 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A study on image processing of the object detection using frequency domain correlation in radiographic inspection equipment 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) BGAはんだ / BGA solder-bump  
キーワード(2)(和/英) 撮影画像 / Inspection image  
キーワード(3)(和/英) 参照画像 / Reference image  
キーワード(4)(和/英) 相関係数 / Correlation coefficient  
キーワード(5)(和/英) アルファブレンド / alphaBlend  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 洋一 / Yoichi Kato / カトウ ヨウイチ
第1著者 所属(和/英) 愛知県立大学 (略称: 愛知県立大)
Aichi Prefectural University (略称: Aichi Pref. Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 毛利 元昭 / Motoaki Mouri / モウリ モトアキ
第2著者 所属(和/英) 愛知大学 (略称: 愛知大)
Aichi University (略称: Aichi Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 安川 博 / Hiroshi Yasukawa / ヤスカワ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 愛知県立大学 (略称: 愛知県立大)
Aichi Prefectural University (略称: Aichi Pref. Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2014-05-23 14:50:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 SIP 
資料番号 SIP2014-19, IE2014-19, PRMU2014-19, MI2014-19 
巻番号(vol) vol.114 
号番号(no) no.39(SIP), no.40(IE), no.41(PRMU), no.42(MI) 
ページ範囲 pp.99-105 
ページ数
発行日 2014-05-15 (SIP, IE, PRMU, MI) 


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