| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2014-06-19 16:55
[依頼講演]絶縁膜上におけるIV族半導体多結晶薄膜の低温形成 ~ 低融点Snの活用 ~ ○黒澤昌志(名大/学振)・田岡紀之(名大)・池上 浩(九大)・竹内和歌奈・坂下満男・中塚 理・財満鎭明(名大) SDM2014-60 |
| 抄録 |
(和) |
積層型 CMOS 回路や近赤外・中赤外光フォトディテクタの新規材料として,我々は IV 族多元半導体(GeSn, SiSn)に着目している.本報では,絶縁膜上における GeSn 多結晶薄膜の低温結晶成長に関する最近のトピックス: (1) 低融点 Sn を活用した結晶成長法,(2) 水中レーザーアニール法について紹介する. |
| (英) |
Low temperature growth of Ge1-xSnx on insulators can provide much wider range of options for device fabrication of 3D-LSIs and photo detectors. Simultaneous achievement of both low temperature growth and large grain growth of a GeSn polycrystal is a serious problem. Consequently, we have been developing low-temperature (<450oC) growth by using a eutectic metal of Sn as the assistant. In this techinical report, we introduce our recent topics about the low temperature crystallization of the GeSn thin-films on insulators; i.e., (1) liquid-Sn-driven lateral growth and (2) underwater pulsed laser annealing. |
| キーワード |
(和) |
IV 族半導体 / 多結晶 / 低温形成 / 水中レーザーアニール法 / / / / |
| (英) |
group-IV semiconductor / poly-crystal / low temperature formation / underwater laser annealing / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 114, no. 88, SDM2014-60, pp. 91-95, 2014年6月. |
| 資料番号 |
SDM2014-60 |
| 発行日 |
2014-06-12 (SDM) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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