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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-06-20 15:10 組込み自己テストのための耐故障応答圧縮器 ○深澤祐樹（三重大）・市原英行・井上智生（広島市大）  DC2014-14 |
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| 抄録 | （和） | 高信頼組込み自己テスト（BIST）はBIST回路自身の一時故障による誤りから回復可能であるため，製造テストだけでなく，LSI出荷後のフィールドテストにおいても信頼性の高いテストを実現するために不可欠である． 本論文では，高信頼BISTのための耐故障応答圧縮器である誤り訂正可能応答圧縮器（SECRA）を提案する． SECRAは被テスト回路（CUT）のテスト実行中の自身への一時故障による誤りを訂正・マスクすることで，無故障時と同様のシグネチャを生成可能な確率を高めることができる． ベンチマーク回路に対する実験結果からは，一般の応答圧縮器と比較して提案するSECRAは高い期待テスト実行確率が得られることを示している． |
| （英） | Reliable built-in self-test (Reliable BIST) is a scheme in which embedded BIST circuits are designed to be tolerant of their faults. Reliable BIST is especially important for highly reliable testing not only in the production test but also in the field test; it is required to recover itself from transient errors of its embedded BIST circuits. In this paper, we propose a self-error-correctable response analyzer (RA) for a reliable BIST scheme. The proposed RA, called SECRA, can correct (or mask) errors that occur on itself during testing circuits-under-test (CUTs), so that it can enhance its test-reliability, which is the probability that the RA can generate the correct (expected) signature at the last test cycle. Experimental results show that SECRA can achieve higher test-reliability compared with a general RA for some benchmark circuits. |
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| キーワード | （和） | 耐故障 / 応答圧縮器 / 期待テスト実行確率 / 巡回符号 / 過渡故障 / / / |
| （英） | Fault tolerance / response analyzers / test-reliability / cyclic code / transient faults / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 99, DC2014-14, pp. 27-32, 2014年6月. | |
| 資料番号 | DC2014-14 | |
| 発行日 | 2014-06-13 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2014-14 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2014-06-20 - 2014-06-20 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証，および一般 |
| テーマ（英） | Design/Test/Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2014-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 組込み自己テストのための耐故障応答圧縮器 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Fault Tolerant Response Analyzer for Built-in Self-test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 耐故障 / Fault tolerance |
| キーワード(2)（和/英） | 応答圧縮器 / response analyzers |
| キーワード(3)（和/英） | 期待テスト実行確率 / test-reliability |
| キーワード(4)（和/英） | 巡回符号 / cyclic code |
| キーワード(5)（和/英） | 過渡故障 / transient faults |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 深澤 祐樹 / Yuki Fukazawa / フカザワ ユウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 三重大学 (略称： 三重大) Mie University (略称： Mie Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-06-20 15:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2014-14 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.99 |
| ページ範囲 | pp.27-32 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-06-13 (DC) |
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