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| 講演名 | 2014-07-10 16:40 電気光学ポリマーの電気光学定数の評価のための簡便で信頼性のあるアパチャーなしの透過型エリプソメトリー法の開発 ○山田俊樹・大友 明（NICT）  OME2014-35 |
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| 抄録 | （和） | 近年、電気光学ポリマーは超高速光変調器や光スイッチ、デジタルシグナル伝送、電界センサーなど様々な応用が期待されている。熱及び化学的な安定性に優れた大きな超分極率を持った電気光学色素が開発され、電気光学定数r33が100 pm/Vを超える電気光学ポリマーに関する報告がなされてきている。電気光学定数r33を評価する方法は幾つかあるが、測定方法が比較的単純で、その測定のための試料準備が簡易であることから、反射型のエリプソメトリー法が多くの研究で用いられてきている。一方、この測定法は注意深く実験を行わなければ人為的、原理的な測定誤差が生じやすいなどの欠点が指摘されてきている。本研究では、電気光学ポリマーの電気光学定数r33の評価のための簡便で信頼性のあるアパチャーなしの透過型エリプソメトリーの開発を行った。 |
| （英） | Recently, considerable attention has been paid to the development of polymeric electro-optic (EO) materials due to their potential applications in ultra-high-speed optical modulators and switches, digital signal processing, and electric-field sensors. The EO polymers with a large EO coefficient r33 over 100 pm/V have been developed by using EO chromophores with large molecular first hyperpolarizability and excellent thermal and chemical stability. Several techniques for characterizing EO performance have been developed. Among these methods, the reflection ellipsometric method has been most commonly used due to the simplicity of its measurement procedure and its sample preparation. On the other hand, some drawbacks of this method are pointed out both from practical and intrinsic viewpoints. Without greater care, the obtained data by this method can lead to inaccurate results. In this paper, we have developed the transmission ellipsometric method without an aperture for simple and reliable evaluation of the EO coefficient r33 of EO polymers. | |
| キーワード | （和） | 電気光学ポリマー / 電気光学定数 / 反射型エリプソメトリー法 / 透過型エリプソメトリー法 / アパチャー / / / |
| （英） | electro-optic polymer / electro-optic coefficient / reflection ellipsometry method / transmission ellipsometric method / aperture / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 134, OME2014-35, pp. 39-44, 2014年7月. | |
| 資料番号 | OME2014-35 | |
| 発行日 | 2014-07-03 (OME) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | OME2014-35 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME IEE-DEI |
| 開催期間 | 2014-07-10 - 2014-07-10 |
| 開催地（和） | 信州大学繊維学部 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 有機ナノ材料・構造制御，デバイス応用，一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OME |
| 会議コード | 2014-07-OME-DEI |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電気光学ポリマーの電気光学定数の評価のための簡便で信頼性のあるアパチャーなしの透過型エリプソメトリー法の開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Transmission ellipsometric method without an aperture for simple and reliable evaluation of electro-optic coefficients of electro-optic polymers |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気光学ポリマー / electro-optic polymer |
| キーワード(2)（和/英） | 電気光学定数 / electro-optic coefficient |
| キーワード(3)（和/英） | 反射型エリプソメトリー法 / reflection ellipsometry method |
| キーワード(4)（和/英） | 透過型エリプソメトリー法 / transmission ellipsometric method |
| キーワード(5)（和/英） | アパチャー / aperture |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山田 俊樹 / Toshiki Yamada / ヤマダ トシキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構 (略称： NICT) National Institute of Information and Communications Technology (略称： NICT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大友 明 / Akira Otomo / オオトモ アキラ |
| 第2著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構 (略称： NICT) National Institute of Information and Communications Technology (略称： NICT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-07-10 16:40:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | OME |
| 資料番号 | OME2014-35 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.134 |
| ページ範囲 | pp.39-44 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-07-03 (OME) |
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