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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-10-23 14:30 テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法 ○大西理功（阪大）・小堀一雄（NTTデータ）・松下 誠・井上克郎（阪大）  SS2014-26 |
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| 抄録 | （和） | Javaプログラム内には，実際の被アクセス範囲に比べて過剰に広く設定されているアクセス修飾子(Accessibility Excessiveness，AE)が多数存在することが知られている．しかし，既存のAE検出手法ではAEの発生理由が考慮されていないため，検出結果には障害となりうるAE以外に設計者の意図により生まれたAEも含まれてしまっていた．そこで本報告では，意図的なアクセスを自動的に判別してAEから除外して障害となりう るAEの適合率をあげることを，テストケースを用いることで実現する．また，ソースコードのテストカバレッジとそのAE変化の関係を調査した．その結果，テストケースにより意図的に作られたAEを発見することができた．また，調査対象のソフトウェアについては，AEメソッドのテストカバレッジが高いものほど，修正されていることが分かった． |
| （英） | In Java Program, we have found there are many access modifiers declared as wider scope than its real access, and we named Accessibility Excessiveness (AE) to such modifiers. In previous AE detection method, we failed to exclude developer-intentional AE from the result, since the method cannot consider why modifiers are in AE. In this paper, we propose a detection method that identifies developer-intentional AE by using test cases. We also investigated if there are some relations between the test coverage of source code and its AE status. Consequently, we succeeded to find developer-intentional with the proposed method. And we also found that the higher the coverage of the AE methods in subject software, the more AE is fixed during its development. | |
| キーワード | （和） | アクセス修飾子 / Javaプログラム / 開発履歴 / 設計情報 / テストケース / テストカバレッジ / / |
| （英） | Access Modifier / Java Program / Development History / Software Design / Testcase / Test Coverage / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 271, SS2014-26, pp. 7-12, 2014年10月. | |
| 資料番号 | SS2014-26 | |
| 発行日 | 2014-10-16 (SS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SS2014-26 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SS |
| 開催期間 | 2014-10-23 - 2014-10-24 |
| 開催地（和） | 高知市文化プラザかるぽーと |
| 開催地（英） | Kochi city culture-plaza cul-port |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SS |
| 会議コード | 2014-10-SS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of Accessibility Excessiveness in Java Programs Using Test Cases as Design Information |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | アクセス修飾子 / Access Modifier |
| キーワード(2)（和/英） | Javaプログラム / Java Program |
| キーワード(3)（和/英） | 開発履歴 / Development History |
| キーワード(4)（和/英） | 設計情報 / Software Design |
| キーワード(5)（和/英） | テストケース / Testcase |
| キーワード(6)（和/英） | テストカバレッジ / Test Coverage |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大西 理功 / Riku Ohnisi / オオニシ リク |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小堀 一雄 / Kazuo Kobori / コボリ カズオ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社 NTTデータ (略称： NTTデータ) NTT DATA Corporation (略称： NTT DATA) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松下 誠 / Makoto Matsushita / マツシタ マコト |
| 第3著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 克郎 / Katsuro Inoue / イノウエ カツロウ |
| 第4著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-10-23 14:30:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | SS |
| 資料番号 | SS2014-26 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.271 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-10-16 (SS) |
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