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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-12-12 11:15 エレクトロルミネッセンス（EL）発光強度を用いたシリコン太陽電池モジュールの機能解析 ○富本剛史・都築翔太・谷 あゆみ（奈良先端大）  EID2014-18 SDM2014-113 |
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| 抄録 | （和） | 太陽光発電モジュールの評価において、電圧を印加し発光強度の濃淡を撮像することで欠陥を発見できるエレクトロルミネッセンスイメージング法（EL法）が注目されている。これまで、EL強度の温度特性から内因的欠陥や外因的欠陥などの定性的な評価が可能であることが分かっている。しかし、EL法ではモジュール性能を定量的に評価できないことが課題として挙げられる。そこで本研究では、性能が既知のリファレンスモジュールと評価モジュールを同時にEL撮像することで、EL強度とモジュールの開放端電圧との相関関係を調査した。 |
| （英） | Electroluminescence imaging method (EL method) is extensively investigated since crystal defects and process induced faults can be easily detected photographically. EL imaging method can evaluate intrinsic and extrinsic defects qualitatively by temperature dependence. In this work we reveal the correlation between EL emission intensity and the parameter of open circuit voltage using reference module. We will present the quantitative analysis method of photoelectric conversion function of Si solar modules. | |
| キーワード | （和） | 結晶シリコン太陽電池 / エレクトロルミネッセンスイメージング法 / EL発光強度 / 開放端電圧 / / / / |
| （英） | Crystalline silicon solar cells / Electroluminescence imaging method / EL intensity / Open circuit voltage / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 360, SDM2014-113, pp. 25-29, 2014年12月. | |
| 資料番号 | SDM2014-113 | |
| 発行日 | 2014-12-05 (EID, SDM) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EID2014-18 SDM2014-113 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM EID |
| 開催期間 | 2014-12-12 - 2014-12-12 |
| 開催地（和） | 京都大学 |
| 開催地（英） | Kyoto University |
| テーマ（和） | シリコン関連材料の作製と評価、およびディスプレイ技術 |
| テーマ（英） | Si and Si-related Materials and Devices, Display Technology |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2014-12-SDM-EID |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | エレクトロルミネッセンス（EL）発光強度を用いたシリコン太陽電池モジュールの機能解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Photoelectric conversion function analysis of the silicon solar module using electroluminescence(EL) emission intensity |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 結晶シリコン太陽電池 / Crystalline silicon solar cells |
| キーワード(2)（和/英） | エレクトロルミネッセンスイメージング法 / Electroluminescence imaging method |
| キーワード(3)（和/英） | EL発光強度 / EL intensity |
| キーワード(4)（和/英） | 開放端電圧 / Open circuit voltage |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 富本 剛史 / Tsuyoshi Tomimoto / トミモト ツヨシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 都築 翔太 / Shota Tsuzuki / ツヅキ ショウタ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 谷 あゆみ / Ayumi Tani / タニ アユミ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-12-12 11:15:00 |
| 発表時間 | 15分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | EID2014-18, SDM2014-113 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.359(EID), no.360(SDM) |
| ページ範囲 | pp.25-29 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2014-12-05 (EID, SDM) |
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