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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-01-15 13:40 ［奨励講演］ログの出力パターンに基づく大規模システム向けログ分析手法の開発と評価 ○外川遼介・八木真二郎（NEC）  ICM2014-34 LOIS2014-41 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では、障害発生時のログ分析の自動化を目的として、ログの正常な出力パターンに基づき異常を自動で分析する手法を提案した。大規模なシステムから出力される大量かつ複雑なログから、実用的な計算時間で高精度なパターンを生成することは従来困難であった。ログの共起性に着目して基準となる組み合わせを事前に生成する処理をパターン生成手法に導入することで、精度を維持したまま計算時間を短縮することに成功した。社内システムのログに対し提案手法を適用した結果、約600万行のログを10分程度で分析し、システムの異常を適切に検出できることを示した。提案手法を用いることで、障害分析時間の短縮および人の作業負荷軽減が見込める。 |
| （英） | We have developed a log analysis method with sequential log patterns. In the past it was difficult to generate precise patterns from huge and complicated logs in practical computing time. To reduce the computing time, we focused the common part of patterns. It derives from the co-occurrence of logs. We adopted it to the pattern generating method. Through the experiments with the logs of enterprise system, we showed proposed method can detect precisely errors from 6 million records in about ten minutes. Our new method enables operators to reduce their tasks in analyzing logs of system failure. | |
| キーワード | （和） | ログ / ログメッセージ / 障害原因分析 / パターン / / / / |
| （英） | Log / Log messages / Failure Analysis / Patterns / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 389, ICM2014-34, pp. 13-18, 2015年1月. | |
| 資料番号 | ICM2014-34 | |
| 発行日 | 2015-01-08 (ICM, LOIS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICM2014-34 LOIS2014-41 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICM LOIS |
| 開催期間 | 2015-01-15 - 2015-01-16 |
| 開催地（和） | 関門海峡&門司港レトロ 旧大連航路上屋 |
| 開催地（英） | Kanmon Straits & Mojiko Retro |
| テーマ（和） | ライフログ活用技術，オフィス情報システム，ビジネス管理，一般 |
| テーマ（英） | Practical Use of Lifelog, Office Information System, Business Management, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICM |
| 会議コード | 2015-01-ICM-LOIS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ログの出力パターンに基づく大規模システム向けログ分析手法の開発と評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A log analysis method using sequential log patterns for large scale systems |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ログ / Log |
| キーワード(2)（和/英） | ログメッセージ / Log messages |
| キーワード(3)（和/英） | 障害原因分析 / Failure Analysis |
| キーワード(4)（和/英） | パターン / Patterns |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 外川 遼介 / Ryosuke Togawa / トガワ リョウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 八木 真二郎 / Shinjiro Yagi / |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-01-15 13:40:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | ICM |
| 資料番号 | ICM2014-34, LOIS2014-41 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.389(ICM), no.390(LOIS) |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-01-08 (ICM, LOIS) |
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