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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-05-14 09:15 大規模回路向け最小テストパタン生成手法について ○松永裕介（九大）  VLD2015-1 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 21, VLD2015-1, pp. 1-6, 2015年5月. | |
| 資料番号 | VLD2015-1 | |
| 発行日 | 2015-05-07 (VLD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2015-1 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2015-05-14 - 2015-05-14 |
| 開催地（和） | 北九州国際会議場 |
| 開催地（英） | Kitakyushu International Conference Center |
| テーマ（和） | システム設計および一般 |
| テーマ（英） | System Design, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2015-05-VLD-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 大規模回路向け最小テストパタン生成手法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A minimum test pattern set generation for large circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
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| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松永 裕介 / Yusuke Matsunaga / マツナガ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-05-14 09:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2015-1 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.21 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-05-07 (VLD) |
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