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講演抄録/キーワード
講演名 2015-10-09 15:20
走査型非線形誘電率顕微法による極性反転層状構造圧電膜の層厚の定量測定
寺田浩士朗西川宏明田中陽平小田川裕之熊本高専)・柳谷隆彦早大)・長 康雄東北大US2015-62
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 115, no. 246, US2015-62, pp. 23-26, 2015年10月.
資料番号 US2015-62 
発行日 2015-10-02 (US) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード US2015-62

研究会情報
研究会 US  
開催期間 2015-10-09 - 2015-10-09 
開催地(和) 金沢工業大学 
開催地(英) Kanazawa Institute of Technology 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 US 
会議コード 2015-10-US 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 走査型非線形誘電率顕微法による極性反転層状構造圧電膜の層厚の定量測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Quantitative measurement of polarity-inverted piezoelectric layer thickness using scanning nonlinear dielectric microscopy 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 寺田 浩士朗 / Koshiro Terada / テラダ コウシロウ
第1著者 所属(和/英) 熊本高等専門学校 (略称: 熊本高専)
National Institute of Technology, Kumamoto College (略称: NIT, Kumamoto College)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 西川 宏明 / Hiroaki Nishikawa / ニシカワ アキヒロ
第2著者 所属(和/英) 熊本高等専門学校 (略称: 熊本高専)
National Institute of Technology, Kumamoto College (略称: NIT, Kumamoto College)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 陽平 / Yohei Tanaka / タナカ ヨウヘイ
第3著者 所属(和/英) 熊本高等専門学校 (略称: 熊本高専)
National Institute of Technology, Kumamoto College (略称: NIT, Kumamoto College)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 小田川 裕之 / Hiroyuki Odagawa / オダガワ ヒロユキ
第4著者 所属(和/英) 熊本高等専門学校 (略称: 熊本高専)
National Institute of Technology, Kumamoto College (略称: NIT, Kumamoto College)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳谷 隆彦 / Takahiko Yanagitani / ヤナギタニ タカヒコ
第5著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 長 康雄 / Yasuo Cho / チョウ ヤスオ
第6著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku Univerisyt (略称: Tohoku Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-10-09 15:20:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 US 
資料番号 US2015-62 
巻番号(vol) vol.115 
号番号(no) no.246 
ページ範囲 pp.23-26 
ページ数
発行日 2015-10-02 (US) 


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