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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-12-02 14:35 補間型TDCを用いたSingle Slope ADCの製造ばらつき耐性に関する考察 ○堀田海平・大畠賢一（鹿児島大）  CPM2015-131 ICD2015-56 |
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| 抄録 | （和） | 高速かつ低電力なADCの実現に向けて、我々は補間型TDCを用いたSingle Slope ADCを提案し、500 MS/sでの動作をすでに報告している。補間型TDCではリング発振器と比較器を用いて補間を行うため、時間分解能はこれらの回路の製造ばらつき耐性に依存するものと予想される。そこで、回路シミュレーションを用いた補間型TDCの製造ばらつき耐性の評価、考察を行った。その結果、比較器のオフセットの影響は小さいこと、リング発振器の遅延時間変動によりADCの変換利得が大きく変動すること、TDC内のサンプリングスイッチのタイミングずれにより変換誤差が増大することを見出した。また、これらの現象により発生した誤差はランプ速度及び比較器のしきい値電圧の調整により補正可能であることを明らかにした。 |
| （英） | We proposed a novel single slope ADC using an interpolative TDC (ITDC) to develop a high-speed and low-power ADC, and reported that the proposed ADC demonstrated a high sampling frequency of 500 MHz. It is predicted that the accuracy of the ITDC is seriously degraded due to the process variability because its resolution is a half of that of the conventional TDC. Therefore, the influence of the process variability on the accuracy of the ITDC was investigated. As a result, we found that the influence of the comparator offset was negligible, and the conversion gain of the ADC considerably changed due to the delay time change of the ring oscillator, and the conversion error increased due to the timing mismatch in the sampling switch. Moreover, it was shown that the conversion error generated by above-mentioned phenomena could be compensated for by adjustment of the ramp speed and threshold voltage of the comparator. | |
| キーワード | （和） | シングルスロープADC / 製造ばらつき / 補間型TDC / / / / / |
| （英） | Single slope ADC / process variability / Interpolative TDC / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 341, ICD2015-56, pp. 23-27, 2015年12月. | |
| 資料番号 | ICD2015-56 | |
| 発行日 | 2015-11-24 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPM2015-131 ICD2015-56 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2015-12-01 - 2015-12-03 |
| 開催地（和） | 長崎県勤労福祉会館 |
| 開催地（英） | Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan |
| テーマ（和） | デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2015-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 補間型TDCを用いたSingle Slope ADCの製造ばらつき耐性に関する考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study on a tolerance for process variability in Single Slope ADC using interpolative TDC |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | シングルスロープADC / Single slope ADC |
| キーワード(2)（和/英） | 製造ばらつき / process variability |
| キーワード(3)（和/英） | 補間型TDC / Interpolative TDC |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 堀田 海平 / Kaihei Hotta / ホッタ カイヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 鹿児島大学 (略称： 鹿児島大) Kagoshima University (略称： Kagishima Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大畠 賢一 / Kenichi Ohhata / |
| 第2著者 所属（和/英） | 鹿児島大学 (略称： 鹿児島大) Kagoshima University (略称： Kagishima Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-12-02 14:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | CPM2015-131, ICD2015-56 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.340(CPM), no.341(ICD) |
| ページ範囲 | pp.23-27 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2015-11-24 (CPM, ICD) |
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