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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-12-02 15:55 15nmプロセスにおける低電力な耐ソフトエラーラッチの設計 ○田島咲季・史 又華・戸川 望・柳澤政生（早大）  VLD2015-56 DC2015-52 |
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| 抄録 | （和） | 近年の微細化により，ソフトエラーによる信頼性低下が問題視されている． 従来，DICEやフリップフロップの多重化といった耐ソフトエラー技術が提案されてきた． 電力制約はさらに厳しさをます中，低電力で高耐性をもつ技術の研究が急務となっている． 本研究では，低電力な耐ソフトエラーラッチであるNew-SEHラッチをNCSU15nmのPDKを用い，実装・評価を行う． SEHラッチと比較し，最大で84.39%の電力削減効果を達成した． |
| （英） | In recent technology scaling, reliability of integrated circuits due to a soft error is becoming more critical than ever before. In literature, several soft error tolerant techniques have been proposed. However due to the power constraints, new techniques for high-tolerant and low-power are needed. In this paper, we propose a New-SEH latch design, and implement it in NCSU 15nm technology. The simulation results show that the proposed latch obtains up to 84.39$%$ power reduction compared to SEH latch. |
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| キーワード | （和） | 消費電力 / 耐ソフトエラーラッチ / Soft Error Hardened (SEH)ラッチ / ソフトエラー / / / / |
| （英） | Power / Soft Error Hardened (SEH) Latch / Soft error / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 338, VLD2015-56, pp. 123-127, 2015年12月. | |
| 資料番号 | VLD2015-56 | |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2015-56 DC2015-52 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2015-12-01 - 2015-12-03 |
| 開催地（和） | 長崎県勤労福祉会館 |
| 開催地（英） | Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan |
| テーマ（和） | デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2015-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 15nmプロセスにおける低電力な耐ソフトエラーラッチの設計 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A low-power soft error tolerant latch scheme on 15nm process |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 消費電力 / Power |
| キーワード(2)（和/英） | 耐ソフトエラーラッチ / Soft Error Hardened (SEH) Latch |
| キーワード(3)（和/英） | Soft Error Hardened (SEH)ラッチ / Soft error |
| キーワード(4)（和/英） | ソフトエラー / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田島 咲季 / Saki Tajima / タジマ サキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 史 又華 / Youhua Shi / シ ヨウカ |
| 第2著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 戸川 望 / Nozomu Togawa / トガワ ノゾム |
| 第3著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa / ヤナギサワ マサオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-12-02 15:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2015-56, DC2015-52 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.338(VLD), no.339(DC) |
| ページ範囲 | pp.123-127 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, DC) |
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