講演抄録/キーワード |
講演名 |
2015-12-17 16:00
[ポスター講演]プライバシー保護の実現に向けたNAND型フラッシュメモリの信頼性評価 ○前田一輝・山沢裕紀・竹内 健(中大) ICD2015-74 CPSY2015-87 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2015-74 |
抄録 |
(和) |
近年、インターネット上のプライバシーに関わるデジタルデータを保護する為に「忘れられる権利」が注目されている。NAND型フラッシュメモリは浮遊ゲートにトンネリング効果を用いて電子を注入してデータを書き込み、放出することで消去を行う。しかし、書き換え回数が増えることにより絶縁膜が劣化し、浮遊ゲート内の電子が抜け落ちることでエラーが生じ信頼性が低下する。また、NAND型フラッシュメモリではエラー確率が高い精度で予測できるという特徴がある。この特徴を利用することで「忘れられる権利」を実現することが出来る。本論文では「忘れられる権利」の実現に向けたNAND型フラッシュメモリの信頼性の評価を行った。 |
(英) |
Recently, Internet-data’s “Right to be forgotten” has been established for the privacy protection of personal information on the internet. NAND flash memory is programed/erased by injection/ejection electron to/from floating gate using the tunneling effect. However, the reliability of NAND flash memory is decreased because the tunnel oxide degradation causes the electrons ejection due to an increase in write/erase cycle. The right to be forgotten is realized by using characteristics of NAND flash memory which can accurately predict the bit-error rate. This paper evaluates reliability of NAND flash memory for privacy protection. |
キーワード |
(和) |
NAND型フラッシュメモリ / プライバシー保護 / 信頼性 / / / / / |
(英) |
NAND flash memory / privacy protection / reliability / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-74, pp. 47-47, 2015年12月. |
資料番号 |
ICD2015-74 |
発行日 |
2015-12-10 (ICD, CPSY) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
ICD2015-74 CPSY2015-87 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2015-74 |
研究会情報 |
研究会 |
ICD CPSY |
開催期間 |
2015-12-17 - 2015-12-18 |
開催地(和) |
京都工芸繊維大学 |
開催地(英) |
Kyoto Institute of Technology |
テーマ(和) |
学生・若手研究会 |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ICD |
会議コード |
2015-12-ICD-CPSY |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
プライバシー保護の実現に向けたNAND型フラッシュメモリの信頼性評価 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Reliability Evaluation of Privacy Protection with NAND Flash Memories |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
NAND型フラッシュメモリ / NAND flash memory |
キーワード(2)(和/英) |
プライバシー保護 / privacy protection |
キーワード(3)(和/英) |
信頼性 / reliability |
キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
前田 一輝 / Kazuki Maeda / マエダ カズキ |
第1著者 所属(和/英) |
中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山沢 裕紀 / Hiroki Yamazawa / ヤマザワ ヒロキ |
第2著者 所属(和/英) |
中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン |
第3著者 所属(和/英) |
中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2015-12-17 16:00:00 |
発表時間 |
100分 |
申込先研究会 |
ICD |
資料番号 |
ICD2015-74, CPSY2015-87 |
巻番号(vol) |
vol.115 |
号番号(no) |
no.373(ICD), no.374(CPSY) |
ページ範囲 |
p.47 |
ページ数 |
1 |
発行日 |
2015-12-10 (ICD, CPSY) |