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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-01-28 13:46 原子間力顕微鏡を用いた偏析界面の液晶中観察 ○小林勇樹・高橋成也・木村宗弘（長岡技科大）  EID2015-27 |
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| 抄録 | （和） | スリットコータを用いた配向印刷法をこれまで報告してきた。反応性メソゲン添加液晶をガラス基板上に塗工し、配向を固定する際に照射するUV照射強度を高くすると、水平配向から垂直配向に液晶分子配向状態が変化するという報告がなされている。配向状態が変化する原因は未だ解明されていないが、UV光を照射することで基板上に偏析される反応性メソゲンの表面形状が影響している可能性がある。 本研究では、原子間力顕微鏡により偏析した高分子層と液晶の境界層の直接観測を試みた。液晶を除去することなく、液晶層／高分子層の境界をAFMにより直接的に観測することが本研究の特徴である。複数の作製条件下で、液晶の配向に及ぼす偏析層の影響について調査した。表面自由エネルギーとプレチルト角の関係についての調査結果についても報告する。 |
| （英） | Previously, slit coater method as an liquid crystal (LC) alignment method has been demonstrated. LC material doped with a reactive-mesogen reveals a dependence of UV intensity of irradiation on LC alignment when coating on a glass substrate. The cause of LC alignment change have not been clarified yet, however, it seems that the surface of the polymerized reactive mesogen which is segregated on a substrate by UV irradiation gives some influence on an LC alignment. In this study, direct observation of the segregated polymer-LC interface by means of atomic force microscope (AFM) is demonstrated. It should be highlighted that, the boundary between the segregated polymer-LC can be observed without removing LC layer, as a result, much information such as the original shape of the segregation layer can be obtained. The effect of UV-polymerization on the LC alignment under some UV irradiation conditions will be discussed. The relationship between the resultant surface free energy and the pre-tilt angle will also be shown. |
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| キーワード | （和） | 原子間力顕微鏡(AFM) / 反応性メソゲン / 液晶 / / / / / |
| （英） | atomic force microscope(AFM) / reactive-mesogen / liquid crystal / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 439, EID2015-27, pp. 9-12, 2016年1月. | |
| 資料番号 | EID2015-27 | |
| 発行日 | 2016-01-21 (EID) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EID2015-27 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID ITE-IDY IEE-EDD SID-JC IEIJ-SSL |
| 開催期間 | 2016-01-28 - 2016-01-29 |
| 開催地（和） | 富山大学 |
| 開催地（英） | Toyama Univ. |
| テーマ（和） | 発光型／非発光型ディスプレイ合同研究会 |
| テーマ（英） | Joint Meeting of Emissive / Non-Emissive Displays |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EID |
| 会議コード | 2016-01-EID-IDY-EDD-JC-SSL |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 原子間力顕微鏡を用いた偏析界面の液晶中観察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Observation of segregation of liquid crystal imaged by atomic force microscope |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 原子間力顕微鏡(AFM) / atomic force microscope(AFM) |
| キーワード(2)（和/英） | 反応性メソゲン / reactive-mesogen |
| キーワード(3)（和/英） | 液晶 / liquid crystal |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 勇樹 / Yuki Kobayashi / コバヤシ ユウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 成也 / Seiya Takahashi / タカハシ セイヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 木村 宗弘 / Munehiro Kimura / キムラ ムネヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-01-28 13:46:00 |
| 発表時間 | 8分 |
| 申込先研究会 | EID |
| 資料番号 | EID2015-27 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.439 |
| ページ範囲 | pp.9-12 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2016-01-21 (EID) |
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