講演抄録/キーワード |
講演名 |
2016-05-20 10:20
Evaluation of electrical properties of HfS2 thin flakes obtained by mechanical exfoliation ○Vikrant Upadhyaya・Toru Kanazawa・Yasuyuki Miyamoto(TokyoTech) ED2016-23 CPM2016-11 SDM2016-28 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2016-23 CPM2016-11 SDM2016-28 |
抄録 |
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キーワード |
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文献情報 |
信学技報, vol. 116, no. 48, ED2016-23, pp. 47-50, 2016年5月. |
資料番号 |
ED2016-23 |
発行日 |
2016-05-12 (ED, CPM, SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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研究会情報 |
研究会 |
CPM ED SDM |
開催期間 |
2016-05-19 - 2016-05-20 |
開催地(和) |
静岡大学 工学部 (浜松キャンパス・総合研究棟) |
開催地(英) |
Shizuoka University, Hamamatsu campus (Joint Research Lab.) |
テーマ(和) |
結晶成長、評価及びデバイス(化合物、Si、SiGe、電子・光材料)およびその他 |
テーマ(英) |
crystal growth、devices characterization , etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ED |
会議コード |
2016-05-CPM-ED-SDM |
本文の言語 |
英語 |
タイトル(和) |
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サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Evaluation of electrical properties of HfS2 thin flakes obtained by mechanical exfoliation |
サブタイトル(英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
Vikrant Upadhyaya / Vikrant Upadhyaya / ヴィクラント ウパダヒヤ |
第1著者 所属(和/英) |
東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: TokyoTech) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
金澤 徹 / Toru Kanazawa / カナザワ トオル |
第2著者 所属(和/英) |
東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: TokyoTech) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
宮本 恭幸 / Yasuyuki Miyamoto / ミヤモト ヤスユキ |
第3著者 所属(和/英) |
東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: TokyoTech) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2016-05-20 10:20:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
ED |
資料番号 |
ED2016-23, CPM2016-11, SDM2016-28 |
巻番号(vol) |
vol.116 |
号番号(no) |
no.48(ED), no.49(CPM), no.50(SDM) |
ページ範囲 |
pp.47-50 |
ページ数 |
4 |
発行日 |
2016-05-12 (ED, CPM, SDM) |
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