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講演抄録/キーワード
講演名 2016-06-20 16:15
[招待講演]国際会議報告:VTS2016
畠山一実群馬大/クリエイトロンDC2016-16
抄録 (和) 2016年4月に米国ネバダ州ラスベガスで開催された第34回VLSIテストシンポジウム(VTS2016)について報告する.VTSの沿革とVTS2016の概要を紹介したのち,論文発表の動向を提示する.また,基調講演について概説するとともに,企業事例トラックでの講演を中心に,テスト生成関連,車載LSI対応テスト技術,デストデータ解析,SoCテストの各分野での注目された発表について詳述する. 
(英) This talk provide a report of VTS2016 (34th IEEE VLSI Test Symposium), which was held in Las Vegas, Nevada, USA, in April 2016. After showing the outlines of VTS and VTS2016, the trend of paper topic area is shown. Then the summaries of keynote speeches are followed by detailed reports on noticeable papers in the areas of test pattern generation, test for automotive LSIs, test data analysis and SoC testing, mainly from Innovative Practice Track.
キーワード (和) VLSI / テスト生成 / 車載LSIテスト / テストデータ解析 / SoCテスト / / /  
(英) VLSI / test generation / automotive LSI / test data analysis / SoC Testing / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 108, DC2016-16, pp. 37-42, 2016年6月.
資料番号 DC2016-16 
発行日 2016-06-13 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2016-16

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2016-06-20 - 2016-06-20 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 設計/テスト/検証および一般 
テーマ(英) Design, Test, Verification, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2016-06-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 国際会議報告:VTS2016 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Internatoinal Conferecen Report: VTS2016 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) VLSI / VLSI  
キーワード(2)(和/英) テスト生成 / test generation  
キーワード(3)(和/英) 車載LSIテスト / automotive LSI  
キーワード(4)(和/英) テストデータ解析 / test data analysis  
キーワード(5)(和/英) SoCテスト / SoC Testing  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 畠山 一実 / Kazumi Hatayama /
第1著者 所属(和/英) 群馬大学/クリエイトロン株式会社 (略称: 群馬大/クリエイトロン)
Gunma University/Creatron Corp. (略称: Gunma Univ./Creatron Corp.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2016-06-20 16:15:00 
発表時間 50分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2016-16 
巻番号(vol) vol.116 
号番号(no) no.108 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数
発行日 2016-06-13 (DC) 


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