| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-08-03 09:45 ［招待講演］ReRAM固有の抵抗ばらつきを利用した40nm混載メモリ向け高信頼性PUF開発 ○吉本裕平・加藤佳一・小笠原 悟・魏 志強・河野和幸（PSCS）  SDM2016-61 ICD2016-29 |
|
| 抄録 | （和） | Physically Unclonable Function(PUF)は，製造ばらつきをチップ固有のIDとして利用し，複製困難性の高いハードウェアセキュリティ技術として注目を集めている．本稿ではResistance Random Access Memory(ReRAM)の抵抗ばらつきを利用したReRAM-PUFを提案する．抵抗ばらつき分布の温度変化や経年劣化に追従してIDを再生する技術を確立し，-40-125 ˚Cかつ125˚C10年の車載品質でもBit Error Rate(BER)が0.49%以下という高信頼性を実現した．更に，生成されたIDはNIST乱数検定をPASSするユニーク性を持つことを実証し，不揮発性メモリにセキュア機能という新たな高付加価値技術を構築することに成功した． |
| （英） | This paper presents a secure application—a physically unclonable function (PUF)—that uses the physical property of resistive random access memory (ReRAM). The proposed PUF-generating method and reproducing algorithm achieves highly reliable with bit error rate (BER) < 0.5% and reproduction exceeding 1010 times at -40 to 125˚C after 10 years at 125˚C and high uniqueness as evidenced by passing NIST tests. Evaluations on 40nm ReRAM test chips have demonstrated the feasibility of a scaled-down ReRAM cell enhanced with PUF. | |
| キーワード | （和） | ReRAM / PUF / 高信頼 / セキュリティ / 車載 / / / |
| （英） | ReRAM / PUF / high reliability / security / automobile / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 172, SDM2016-61, pp. 89-94, 2016年8月. | |
| 資料番号 | SDM2016-61 | |
| 発行日 | 2016-07-25 (SDM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2016-61 ICD2016-29 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD SDM ITE-IST |
| 開催期間 | 2016-08-01 - 2016-08-03 |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | Central Electric Club |
| テーマ（和） | アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
| テーマ（英） | Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2016-08-ICD-SDM-IST |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ReRAM固有の抵抗ばらつきを利用した40nm混載メモリ向け高信頼性PUF開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A ReRAM-based Physically Unclonable Function with Bit Error Rate < 0.5% after 10 years at 125°C for 40nm embedded application |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ReRAM / ReRAM |
| キーワード(2)（和/英） | PUF / PUF |
| キーワード(3)（和/英） | 高信頼 / high reliability |
| キーワード(4)（和/英） | セキュリティ / security |
| キーワード(5)（和/英） | 車載 / automobile |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉本 裕平 / Yuhei Yoshimoto / ヨシモト ユウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 佳一 / Yoshikazu Katoh / カトウ ヨシカズ |
| 第2著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小笠原 悟 / Satoru Ogasahara / オガサハラ サトル |
| 第3著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 魏 志強 / Zhiqiang Wei / ウェイ シキョウ |
| 第4著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 河野 和幸 / Kazuyuki Kouno / コウノ カズユキ |
| 第5著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 (略称： PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation (略称： Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-08-03 09:45:00 |
| 発表時間 | 45分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | SDM2016-61, ICD2016-29 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.172(SDM), no.173(ICD) |
| ページ範囲 | pp.89-94 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-07-25 (SDM, ICD) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]