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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-08-03 09:00 ［招待講演］多結晶シリコンFinFETを用いたSRAM PUFとその性能評価 ○大内真一・柳 永勛・堀 洋平・入沢寿史・更田裕司・森田行則・右田真司・森 貴洋・中川 格・塚田順一・小池汎平・昌原明植・松川 貴（産総研）  SDM2016-60 ICD2016-28 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 172, SDM2016-60, pp. 83-87, 2016年8月. | |
| 資料番号 | SDM2016-60 | |
| 発行日 | 2016-07-25 (SDM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2016-60 ICD2016-28 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD SDM ITE-IST |
| 開催期間 | 2016-08-01 - 2016-08-03 |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | Central Electric Club |
| テーマ（和） | アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
| テーマ（英） | Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2016-08-ICD-SDM-IST |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 多結晶シリコンFinFETを用いたSRAM PUFとその性能評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | SRAM PUF using Polycrystalline Silicon Channel FinFET and Its Evaluation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
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| キーワード(5)（和/英） | / |
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| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大内 真一 / Shin-ichi O'uchi / オオウチ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳 永勛 / Yungxun Liu / リュウ ユウシュン |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 堀 洋平 / Yohei Hori / ホリ ヨウヘイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 入沢 寿史 / Toshifumi Irisawa / イリサワ トシフミ |
| 第4著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 更田 裕司 / Hiroshi Fuketa / フケタ ヒロシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森田 行則 / Yukinori Morita / モリタ ユキノリ |
| 第6著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 右田 真司 / Shinji Migita / ミギタ シンジ |
| 第7著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森 貴洋 / Takahiro Mori / モリ タカヒロ |
| 第8著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中川 格 / Tadashi Nakagawa / ナカガワ タダシ |
| 第9著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | 塚田 順一 / Junichi Tsukada / ツカダ ジュンイチ |
| 第10著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小池 汎平 / Hanpei Koike / コイケ ハンペイ |
| 第11著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | 昌原 明植 / Meishoku Masahara / マサハラ メイショク |
| 第12著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松川 貴 / Takashi Matsukawa / マツカワ タカシ |
| 第13著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of AIST (略称： AIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-08-03 09:00:00 |
| 発表時間 | 45分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | SDM2016-60, ICD2016-28 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.172(SDM), no.173(ICD) |
| ページ範囲 | pp.83-87 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2016-07-25 (SDM, ICD) |
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