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講演抄録/キーワード
講演名 2016-08-09 15:35
STM-SQUID顕微鏡のプローブ・試料間距離変調による局所磁場解析
○宮戸祐治・横丁 伝(阪大) SCE2016-25
抄録 (和) われわれは,高温超伝導体のrf-SQUID と走査トンネル顕微鏡(STM)とを組み合わせたSTM-SQUID 顕微鏡を開発している.高透磁率のプローブがフラックスガイドおよびSTMのプローブという重要な役割を兼ねており,磁場像と表面形状像の同時取得を可能とする.このときプローブは,試料近傍のプローブ先端のみならず試料から離れたプローブ側面からも磁束を捕捉し,SQUIDまで伝達する.このため通常の方法で得た磁場像は,試料上空の磁場分布に大きく影響されてしまう.そこで,本報告ではプローブ・試料間の距離変調を行うことで,試料表面の局所磁場だけを抽出することを試みるとともに,シミュレーションおよび実験により得られる距離変調磁場像を解析した.その結果,背景磁場が抑制され,ノイズも低減されることで,距離変調磁場像は本来の磁場分布と非常に近いことが明らかとなった. 
(英) We have developed an STM-SQUID microscope, in which a scanning tunneling microscope (STM) is combined with a high-Tc rf-SQUID. The probe having high permeability plays important roles of the STM probe and the flux guide so that magnetic and topographic images can be obtained simultaneously. The probe makes the magnetic flux transferred from the sample to the SQUID via not only the probe tip near the sample surface, but also the position far from the sample. Therefore, the magnetic image taken by the normal method is significantly influenced by the magnetic field distribution above the sample. In this study, distance-modulation was carried out for extraction of the local magnetic field of the sample surface. Then, we analyzed the magnetic images obtained by the distance modulation from the simulation and experiment. It showed that the distance-modulated magnetic image could be very similar to the actual distribution of the sample surface due to cancellation of the background magnetic field and reduction of the SQUID noise.
キーワード (和) rf-SQUID / SQUID顕微鏡 / 磁気顕微鏡 / 距離変調 / / / /  
(英) rf-SQUID / SQUID microscopy / magnetic microscopy / distance modulation / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 175, SCE2016-25, pp. 69-73, 2016年8月.
資料番号 SCE2016-25 
発行日 2016-08-01 (SCE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SCE2016-25

研究会情報
研究会 SCE  
開催期間 2016-08-08 - 2016-08-09 
開催地(和) 埼玉大(大宮ソニックシティ) 
開催地(英) Saitama Univ. (Omiya sonic city) 
テーマ(和) 検出器・SQUID、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SCE 
会議コード 2016-08-SCE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) STM-SQUID顕微鏡のプローブ・試料間距離変調による局所磁場解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of local magnetic field obtained by probe-sample distance modulation in STM-SQUID microscope 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) rf-SQUID / rf-SQUID  
キーワード(2)(和/英) SQUID顕微鏡 / SQUID microscopy  
キーワード(3)(和/英) 磁気顕微鏡 / magnetic microscopy  
キーワード(4)(和/英) 距離変調 / distance modulation  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮戸 祐治 / Yuji Miyato / ミヤト ユウジ
第1著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 横丁 伝 / Tsutau Yokocho / ヨコチョウ ツタウ
第2著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2016-08-09 15:35:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SCE 
資料番号 SCE2016-25 
巻番号(vol) vol.116 
号番号(no) no.175 
ページ範囲 pp.69-73 
ページ数 5 
発行日 2016-08-01 (SCE) 


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