講演抄録/キーワード |
講演名 |
2016-10-21 14:30
治具のTパラメータを用いる多ポート回路のSパラメータ推定法 ~ 測定と回路のポート数が異なる場合 ~ ○小島侑也・関根敏和・高橋康宏(岐阜大) EMCJ2016-80 MW2016-112 EST2016-76 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2016-112 EST2016-76 |
抄録 |
(和) |
治具を介した間接測定により被測定回路のSパラメータを求める一方法について,測定ポート数と被測定回路のポート数が異なる場合を検討している.本方法では,まず,被測定回路の代わりに既知の負荷を治具に接続し,残りのポート間のSパラメータを測定することで治具のTパラメータを推定する.次に,治具に被測定回路を接続したときの測定値から治具の特性を取り除くことで,被測定回路のSパラメータを得る.治具のTパラメータを用いる利点は,その推定式が線形方程式になることである.治具を介する測定ポート数が被測定回路のポート数と異なる場合を検討し,測定ポート数が多い場合に治具のTパラメータが推定でき,被測定回路のSパラメータが得られることを述べている. |
(英) |
A method estimating S-parameters of n-port circuit connected to (m+n)-port fixture is described. Especially
the case where m and n are different is investigated. First, T-parameters of the (m+n)-port fixture can be
obtained from the measured values of the S-parameters between the remaining port with the known loads instead
of the circuit under test. Next, S-parameters of the n-port circuit under test can be obtained by removing the
characteristics of (m+n)-port fixture from the measured values. The advantage of using the T parameter of the
fixture is that the estimation equations are linear equations. When the number of measurement port is greater than
the number of ports of the circuit under test, T parameters of the fixture can be estimated. Then, S parameters of
the n-port circuit under test is obtained. Numerical example to verify the validity of the method is shown. |
キーワード |
(和) |
Sパラメータ測定 / ディエンベディング / Tパラメータ / マルチポート回路 / / / / |
(英) |
S-parameters measurement / de-embedding / T-parameters / multi-port circuit / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 116, no. 253, EMCJ2016-80, pp. 119-124, 2016年10月. |
資料番号 |
EMCJ2016-80 |
発行日 |
2016-10-13 (EMCJ, MW, EST) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
EMCJ2016-80 MW2016-112 EST2016-76 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2016-112 EST2016-76 |
研究会情報 |
研究会 |
EMCJ IEE-EMC MW EST |
開催期間 |
2016-10-20 - 2016-10-21 |
開催地(和) |
東北大学 |
開催地(英) |
Tohoku Univ. |
テーマ(和) |
マイクロ波,電磁界シミュレーション,EMC一般 |
テーマ(英) |
Microwave, Electromagnetic simulation, EMC, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
EMCJ |
会議コード |
2016-10-EMCJ-EMC-MW-EST |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
治具のTパラメータを用いる多ポート回路のSパラメータ推定法 |
サブタイトル(和) |
測定と回路のポート数が異なる場合 |
タイトル(英) |
S-parameter estimation method for multi-port circuit using T parameters of fixture |
サブタイトル(英) |
the number of ports of the measurement and multi-port circuit is not equal |
キーワード(1)(和/英) |
Sパラメータ測定 / S-parameters measurement |
キーワード(2)(和/英) |
ディエンベディング / de-embedding |
キーワード(3)(和/英) |
Tパラメータ / T-parameters |
キーワード(4)(和/英) |
マルチポート回路 / multi-port circuit |
キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
小島 侑也 / Yuuya Kojima / コジマ ユウヤ |
第1著者 所属(和/英) |
岐阜大学 (略称: 岐阜大)
Gifu University (略称: Gifu Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
関根 敏和 / Toshikazu Sekine / セキネ トシカズ |
第2著者 所属(和/英) |
岐阜大学 (略称: 岐阜大)
Gifu University (略称: Gifu Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
高橋 康宏 / Yasuhiro Takahashi / タカハシ ヤスヒロ |
第3著者 所属(和/英) |
岐阜大学 (略称: 岐阜大)
Gifu University (略称: Gifu Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2016-10-21 14:30:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
EMCJ |
資料番号 |
EMCJ2016-80, MW2016-112, EST2016-76 |
巻番号(vol) |
vol.116 |
号番号(no) |
no.253(EMCJ), no.254(MW), no.255(EST) |
ページ範囲 |
pp.119-124 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2016-10-13 (EMCJ, MW, EST) |
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