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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-11-03 13:55 微摺動機構を用いた電気接点の劣化現象 ～ いくつかの実験条件下における最小摺動振幅に関連した入力波形の比較2 ～ ○和田真一・越田圭司（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大）  EMD2016-52 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2016-52 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，振動外力下における電気接点の劣化現象に関する検討を行っている．また，ピエゾ・アクチュエータと弾性ヒンジによる微摺動機構を開発してきた．この機構によれば電気接点電気抵抗を変動させうる``最小摺動振幅''を得ることができる．本論文では，正弦波によるさらに実際的な関数を表現し，入力と出力を見積もった．デュハメル積分と最適化により，立ち上がり時間$T_s$を見積もり，理論モデルに適用した結果，実験値と十分な一致をみた． |
| （英） | Authors have studied degradation phenomenon on electrical contacts under the influences of an external micro-oscillation. They have developed a new micro-sliding mechanism ($MSM2$) which provides micro-sliding driven by a piezo-electric actuator and elastic hinges. By the mechanism they obtain the experimental results on ``minimal sliding amplitudes'' to make electrical resistances fluctuate under some conditions. In this paper, more realistic input function is applied by sinusoidal function. Using minimal sliding amplitude (MSA), input forces and output displacements are estimated. By Duhamel's integral and optimization method, additional dynamical parameter $T_s$ is evaluated. Therefore, the waveforms on theoretical model are similar to the experimental results. |
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| キーワード | （和） | 電気接点 / 微摺動機構 / 最小摺動振幅 / 入力波形 / / / / |
| （英） | electrical contact / micro-sliding mechanism / minimal sliding amplitude / input waveform / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 283, EMD2016-52, pp. 11-16, 2016年11月. | |
| 資料番号 | EMD2016-52 | |
| 発行日 | 2016-10-27 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2016-52 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2016-52 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2016-11-03 - 2016-11-04 |
| 開催地（和） | 淡路夢舞台国際会議場 |
| 開催地（英） | Awaji Yumebutai International Conference Center |
| テーマ（和） | 国際セッションIS-EMD2016 (継電器・コンタクトテクノロジ研究会 共催) |
| テーマ（英） | International Session IS-EMD2016 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2016-11-EMD |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | 微摺動機構を用いた電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | いくつかの実験条件下における最小摺動振幅に関連した入力波形の比較2 |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism |
| サブタイトル（英） | The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions 2 |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微摺動機構 / micro-sliding mechanism |
| キーワード(3)（和/英） | 最小摺動振幅 / minimal sliding amplitude |
| キーワード(4)（和/英） | 入力波形 / input waveform |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭司 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Thechnology (略称： NIT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-11-03 13:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2016-52 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.283 |
| ページ範囲 | pp.11-16 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-10-27 (EMD) |
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