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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-11-30 09:25 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について ○河塚信吾・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）  VLD2016-62 DC2016-56 |
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| 抄録 | （和） | 半導体製造技術の向上により，回路の遅延時間がわずかにシフトする微小遅延故障がタイミング不良として顕在化している． 微小遅延故障は経年劣化により誤動作の原因となる可能性があるため検査手法が求められている． 過去に，パスの遅延故障を検出するため，TDC(Time-to-Digital Converter)を用いた微小遅延測定用回路が提案されている． 本稿ではTDCを用いた回路の改良のため，被検査回路内のスキャンFFにTDCを組込んだ回路の設計を行い，シミュレーションによる遅延検出能力評価を行う． |
| （英） | With improvement of semiconductor manufacturing process, small delay becomes more important cause of timing failures. Small delay faults may cause circuit malfunction due to aging deterioration. Therefore, test method for small delay faults is required. We have proposed small delay measurement circuit using TDC(Time-to-Digital Converter) to detect small delay faults on circuit paths. In this paper, we propose new scan FF design that can from a TDC with less area overhead and evaluate its feasibility to detect small delay faults by circuit simulation. |
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| キーワード | （和） | 微小遅延故障 / TDC(Time-to-Digital Converter) / 検査容易化設計 / スキャン設計 / / / / |
| （英） | small delay faults / TDC(Time-to-Digital Converter) / design for testability / scan design / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 331, DC2016-56, pp. 105-110, 2016年11月. | |
| 資料番号 | DC2016-56 | |
| 発行日 | 2016-11-21 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2016-62 DC2016-56 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE |
| 開催期間 | 2016-11-28 - 2016-11-30 |
| 開催地（和） | 立命館大学大阪いばらきキャンパス |
| 開催地（英） | Ritsumeikan University, Osaka Ibaraki Campus |
| テーマ（和） | デザインガイア2016 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2016 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2016-11-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design of TDC Embedded in Scan FFs for Testing Small Delay Faults |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 微小遅延故障 / small delay faults |
| キーワード(2)（和/英） | TDC(Time-to-Digital Converter) / TDC(Time-to-Digital Converter) |
| キーワード(3)（和/英） | 検査容易化設計 / design for testability |
| キーワード(4)（和/英） | スキャン設計 / scan design |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 河塚 信吾 / Shingo Kawatsuka / カワツカ シンゴ |
| 第1著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-11-30 09:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2016-62, DC2016-56 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.330(VLD), no.331(DC) |
| ページ範囲 | pp.105-110 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-11-21 (VLD, DC) |
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