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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-11-30 11:20 動作中のIoTデバイスに対する電気容量変化の測定を用いた不正改変検知装置の設計 ○北山遼育（早大）・竹中 崇（NEC）・柳澤政生・戸川 望（早大）  VLD2016-66 DC2016-60 |
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| 抄録 | （和） | IoTデバイスにおいて攻撃者はデバイスへ容易にアクセスできるため，IoTデバイスに対する不正なデバイス接続がセキュリティ上の脅威になり得る．デバイスの電気容量の変化を用いた不正検知は，電気容量がデバイスの物理的な構造によって決定されるため，不正なデバイスの接続による消費電力変化が小さい場合でも有効である．しかし，既存の電気容量計測装置は動作中のデバイスに対する電気容量の測定が難しく，IoTデバイスへの攻撃として想定され得る動作中のデバイスに対する不正なデバイスの接続は検知できない．そこで本稿では，動作中のIoTデバイスに対する電気容量変化の測定を用いたデバイスの不正改変検知装置を提案する．提案不正改変検知装置は(a)正弦波発振回路と波形合成回路を用いた電源電圧を基準にわずかに振動する電源信号の生成回路を持ち，(a)から供給される電源信号を用いることでデバイスの動作に影響を与えることなく電気容量測定を可能とした．さらに，(b)電源信号の交流信号成分の振幅自動調整回路によって幅広い種類のIoTデバイスに対する電気容量測定を可能とした．動作中のIoTデバイスへ不正な電気容量変化を与え，電気容量変化を提案不正改変検知装置を用いて観測した．その結果，提案不正改変検知装置は0.1$mu$Fから10$mu$Fまでの電気容量の変化を検知できた． |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | IoT / 不正改変検知 / 電気容量測定 / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 330, VLD2016-66, pp. 129-134, 2016年11月. | |
| 資料番号 | VLD2016-66 | |
| 発行日 | 2016-11-21 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2016-66 DC2016-60 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE |
| 開催期間 | 2016-11-28 - 2016-11-30 |
| 開催地（和） | 立命館大学大阪いばらきキャンパス |
| 開催地（英） | Ritsumeikan University, Osaka Ibaraki Campus |
| テーマ（和） | デザインガイア2016 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2016 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2016-11-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 動作中のIoTデバイスに対する電気容量変化の測定を用いた不正改変検知装置の設計 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Malisious tamper detector design with capacitance measurement for IoT devices in operation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | IoT / |
| キーワード(2)（和/英） | 不正改変検知 / |
| キーワード(3)（和/英） | 電気容量測定 / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 北山 遼育 / Ryosuke Kitayama / キタヤマ リョウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 竹中 崇 / Takashi Takenaka / タケナカ タカシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa / ヤナギサワ マサオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 戸川 望 / Nozomu Togawa / トガワ ノゾム |
| 第4著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-11-30 11:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2016-66, DC2016-60 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.330(VLD), no.331(DC) |
| ページ範囲 | pp.129-134 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-11-21 (VLD, DC) |
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