| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-01-26 14:26 大型ディスプレイにおけるゲート遅延評価 ○月井千尋・沈 昌勲・服部励治（九大）  EID2016-32 エレソ技報アーカイブへのリンク：EID2016-32 |
|
| 抄録 | （和） | 本研究では，アクティブマトリクス液晶ディスプレイ(AMLCD)及びアクティブマトリクス有機ELディスプレイ(AMOLED)の1サブピクセルあたりのゲート線抵抗，ゲート線と各電極間の容量抽出を行い，大型ディスプレイにおいて顕著に生じるゲート遅延の影響を分布RC線路で考え，SPICEシミュレーションによって検討した．その結果，4K以上の大型高精細ディスプレイでは選択TFTの選択時間よりもゲート信号立ち上がり時の時定数が大きくなり，ゲート信号波形の鈍りが無視できない．したがって，ゲートドライバ，ソースドライバをディスプレイの両側に配置し，ディスプレイを4分割駆動し，負荷を低減させ，選択時間を拡大する方法が必須であることが分かった． |
| （英） | In this study, we have extracted the gate line resistance and the parasitic capacitance per subpixel of active matrix liquid crystal display (AMLCD) and active matrix organic light-emitting diode display (AMOLED). Furthermore, we investigated the effect of gate delay on distributed RC line by SPICE simulation. As a result, in a large high-definition display of 4 K or more, the time constant at the rising of the gate signal becomes larger than the select time of the switching TFT, so that the dullness of the gate signal waveform cannot be ignored. Therefore, it is necessary to arrange the gate driver and the source driver on both sides of the display and drive the display in quarters. With these methods, the load can be reduced and the select time can be expanded. | |
| キーワード | （和） | ゲート遅延 / 分布RC線路 / / / / / / |
| （英） | Gate delay / Distributed RC line / 4K / 8K / AMLCD / AMOLED / TFT / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 430, EID2016-32, pp. 29-32, 2017年1月. | |
| 資料番号 | EID2016-32 | |
| 発行日 | 2017-01-19 (EID) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EID2016-32 エレソ技報アーカイブへのリンク：EID2016-32 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID ITE-IDY IEE-EDD IEIJ-SSL SID-JC |
| 開催期間 | 2017-01-26 - 2017-01-27 |
| 開催地（和） | 徳島大学 |
| 開催地（英） | Tokushima Univ. |
| テーマ（和） | 発光型／非発光型ディスプレイ合同研究会 |
| テーマ（英） | Joint Meeting of Emissive/Non-emissive Displays |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EID |
| 会議コード | 2017-01-EID-IDY-EDD-SSL-JC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 大型ディスプレイにおけるゲート遅延評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Gate delay evaluation in a large-sized display |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ゲート遅延 / Gate delay |
| キーワード(2)（和/英） | 分布RC線路 / Distributed RC line |
| キーワード(3)（和/英） | / 4K |
| キーワード(4)（和/英） | / 8K |
| キーワード(5)（和/英） | / AMLCD |
| キーワード(6)（和/英） | / AMOLED |
| キーワード(7)（和/英） | / TFT |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 月井 千尋 / Chihiro Tsukii / ツキイ チヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 沈 昌勲 / Chang-Hoon Shim / シム チャンフン |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 服部 励治 / Reiji Hattori / ハットリ レイジ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第4著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-01-26 14:26:00 |
| 発表時間 | 8分 |
| 申込先研究会 | EID |
| 資料番号 | EID2016-32 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.430 |
| ページ範囲 | pp.29-32 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2017-01-19 (EID) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]