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講演抄録/キーワード
講演名 2017-02-17 17:00
動作バウンスアークによる接点への熱影響解析技術についての報告
村上和也西田 剛オムロン)・新開哲夫オムロンリレーアンドデバイスR2016-71 EMD2016-98
抄録 (和) リレーの接点溶着現象の起因となる接点の溶融現象を定量化する熱解析手法の検討をおこなった.接点の溶融は,動作バウンスアークによって接点にエネルギが供給されることで生じる.このとき,アークのエネルギを一点で与え続けた場合,解析結果は実測と異なる溶融状態となることがわかった.本報告では,接点溶融面積の実測結果と,同一のアークエネルギ条件で熱解析結果を比較し,実測を再現するアークエネルギの与え方について検証をおこなった.その結果,アークエネルギは一点で与え続けるのではなく,アーク発生中は接点表面を移動しながら接点を溶融させていることがわかった. 
(英) We report a thermal analysis method to quantify the melting phenomenon of the contact which causes the contact welding phenomenon of the relay. Melting phenomenon of the contact occurs due to energy being supplied to the contact by the motion bounce arc. At this time, it was found that when the energy of the arc is continued to be given at one point, the analysis result becomes a melting state different from the actual measurement. In this report, the results of thermal analysis are compared with the actual measurement result of the contact melting area by the same arc energy, and the way of giving the arc energy to reproduce the actual measurement is verified. As a result, it was found that the arc energy does not continue to be given at one point, but arc melts the contact while moving on the contact surface.
キーワード (和) 接点 / / 接点溶融 / 解析 / / / /  
(英) Contact / Thermal / Melting Contact / Simulation / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 459, EMD2016-98, pp. 65-70, 2017年2月.
資料番号 EMD2016-98 
発行日 2017-02-10 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2016-71 EMD2016-98

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2017-02-17 - 2017-02-17 
開催地(和) オムロン草津事業所 
開催地(英) Omuron Kusatsu Factory 
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2017-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 動作バウンスアークによる接点への熱影響解析技術についての報告 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Report on thermal simulation technique to analyze effect of contact bounce arc. 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 接点 / Contact  
キーワード(2)(和/英) / Thermal  
キーワード(3)(和/英) 接点溶融 / Melting Contact  
キーワード(4)(和/英) 解析 / Simulation  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 村上 和也 / Kazua Murakami / ムラカミ カズヤ
第1著者 所属(和/英) オムロン株式会社 (略称: オムロン)
Omron Corporation (略称: Omron)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 西田 剛 / Takeshi Nishida / ニシダ タケシ
第2著者 所属(和/英) オムロン株式会社 (略称: オムロン)
Omron Corporation (略称: Omron)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 新開 哲夫 / Tetsuo Shinkai / シンカイ テツオ
第3著者 所属(和/英) オムロンリレーアンドデバイス株式会社 (略称: オムロンリレーアンドデバイス)
Omron Relay And Device Corporation (略称: OER)
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講演者 第1著者 
発表日時 2017-02-17 17:00:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 R2016-71, EMD2016-98 
巻番号(vol) vol.116 
号番号(no) no.458(R), no.459(EMD) 
ページ範囲 pp.65-70 
ページ数
発行日 2017-02-10 (R, EMD) 


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