| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-02-21 16:10 FPGAに実装したリングオシレータの特性に関する考察 ○佐藤晃平・三浦幸也（首都大東京）  DC2016-82 |
|
| 抄録 | （和） | FPGA(Field Programmable Gate Array)とは任意の論理機能を何度も書き換えて実装することができる集積回路である．近年，半導体の微細化に伴って，LSIと同様にFPGAチップの製造ばらつきやトランジスタの劣化による回路動作への影響が問題になってきている．FPGAを用いて，信頼性の高いディジタルシステムを実現するためには，製造ばらつきや劣化の影響を考慮する必要がある．FPGAの劣化対策や，劣化量を推定するためには，FPGAチップの初期状態の特性ばらつきを評価することが重要となる．LSIにおいて，リングオシレータ(RO : Ring Oscillator)を用いたチップ内部の製造ばらつきの測定手法が提案されている．本研究では，FPGAの劣化対策や劣化量推定の実現に向けて，ROをFPGA上に実装し，発振周波数の測定を行うことで，FPGAチップの特性ばらつきを評価し，また，ばらつき測定回路の精度も評価した． |
| （英） | FPGAs (Field Programmalbe Gate Arrays) are integrated circuits that can be implemented arbitrary logic functions by reconfigration. In recent years, with the downscaling of semiconductors, the influence on circuit operation due to process variations of FPGA chips and aging of transistors has become problems as with LSIs. In order to realize a highly reliable digital system using FPGA, it is necessary to consider the influence of process variation and aging. Evaluating the characteristics of the initial state of the FPGA chip is important for estimating the aging amount of FPGA and taking measures against aging. In LSIs, a method for measuring process variation of the chip using a ring oscillator (RO) has been proposed. In this study, ROs are implemented in FPGA, oscillation frequency is measured, and the variation in characteristics of the FPGA chip is evaluated. | |
| キーワード | （和） | FPGA / リングオシレータ / 発振周波数 / ばらつき / 特性 / / / |
| （英） | FPGA / Ring Oscillators / Oscillating frequency / variation / characteristics / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 466, DC2016-82, pp. 45-52, 2017年2月. | |
| 資料番号 | DC2016-82 | |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2016-82 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2017-02-21 - 2017-02-21 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2017-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | FPGAに実装したリングオシレータの特性に関する考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Considerations on Characteristics of Ring Oscillators Implemented in FPGA |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(2)（和/英） | リングオシレータ / Ring Oscillators |
| キーワード(3)（和/英） | 発振周波数 / Oscillating frequency |
| キーワード(4)（和/英） | ばらつき / variation |
| キーワード(5)（和/英） | 特性 / characteristics |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 晃平 / Kouhei Satou / サトウ コウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三浦 幸也 / Yukiya Miura / |
| 第2著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-02-21 16:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2016-82 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.466 |
| ページ範囲 | pp.45-52 |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]