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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-04-21 13:20 複合イベント処理用 SFQ complex event detector の設計と高速動作テスト ○佐藤僚亮・小野智裕・山梨裕希・吉川信行（横浜国大）  SCE2017-6 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では、単一磁束量子 (Single Flux Quantum : SFQ) 回路を用い、複合イベント処理(Complex Event Processing : CEP)の演算部分であるCED (Complex Event Detector)回路およびその構成回路であるsymbol matching回路について研究を行っている。CED回路では、Symbolと呼ばれるデータ列と入力されたデータとのパターンマッチングを行っている。我々は、8-bit、4-symbolに対応したCED回路の設計を行い、測定において51.2 GHzでの高速動作を確認した。また、Symbol数を外部信号によって変更でき、異なった長さのSymbolに対しても検出可能なCED回路の設計を行い、測定において52.1 GHzでの高速動作を確認した。 |
| （英） | We study about complex event detector (CED) circuits and symbol matching circuits, which are component circuits of the CED circuits, based on single-flux-quantum (SFQ) circuit technology. The CED circuits are fundamental processing units in complex event processing (CEP) systems. Pattern matching of input data with “symbols,” which are certain bits of data pattern, is performed in CED circuits in order to search a designated data pattern from input data. We designed an 8-bit 4-symbol CED circuit and confirmed its correct operation at 51.2 GHz. We also designed a CED circuit for variable number of symbols, which can detect different length of symbols, and confirmed its correct operation at 52.1 GHz. | |
| キーワード | （和） | 超伝導集積回路 / SFQ回路 / パターンマッチング / CEPシステム / / / / |
| （英） | Superconductor integrated circuits / SFQ circuits / pattern matching / CEP system / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 10, SCE2017-6, pp. 29-34, 2017年4月. | |
| 資料番号 | SCE2017-6 | |
| 発行日 | 2017-04-14 (SCE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SCE2017-6 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
| 開催期間 | 2017-04-21 - 2017-04-21 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | デバイス関係、薄膜、一般 |
| テーマ（英） | Devices, Thin film, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SCE |
| 会議コード | 2017-04-SCE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 複合イベント処理用 SFQ complex event detector の設計と高速動作テスト |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design and high speed test of an SFQ complex event detector circuit for complex event processing |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 超伝導集積回路 / Superconductor integrated circuits |
| キーワード(2)（和/英） | SFQ回路 / SFQ circuits |
| キーワード(3)（和/英） | パターンマッチング / pattern matching |
| キーワード(4)（和/英） | CEPシステム / CEP system |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 僚亮 / Ryosuke Sato / サトウ リョウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama Nat'l Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小野 智裕 / Tomohiro ono / オノ トモヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama Nat'l Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山梨 裕希 / Yuki Yamanashi / ヤマナシ ユウキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama Nat'l Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 信行 / Nobuyuki Yoshikawa / ヨシカワ ノブユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama Nat'l Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-04-21 13:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SCE |
| 資料番号 | SCE2017-6 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.10 |
| ページ範囲 | pp.29-34 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-04-14 (SCE) |
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