| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-05-18 14:43 ［ポスター講演］暗号機器の故障検知のための加算回路の漏えい電磁情報計測 ○嵯峨直人（東北大）・林 優一（奈良先端大）・水木敬明・曽根秀昭（東北大）  EMCJ2017-9 |
|
| 抄録 | （和） | 本研究では，暗号機器のIC内部で発生した故障をICから漏えいする電磁情報を観測することで検出する．具体的には，加算回路をIC内部に実装し，故障時と正常動作時の漏えい電磁情報を比較する実験を行うことで，故障を検出する．実験の結果，故障時と正常動作時に漏えい電磁情報の振幅の変化が観測され，提案手法を用いることで故障を非侵襲で検出可能であることを明らかにした． |
| （英） | In this study, we observe leaked EM information radiated from an encryption device to estimate a timing of fault caused inside its IC. Specifically, we implement a simple adder circuit on the IC and measure leaked EM information for the case where fault occurs and for normal case. Through the experiment, we observed differences of leaked EM information between fault and normal condition. This result implies that fault could be detected non-invasively by using the proposal method. | |
| キーワード | （和） | 暗号機器 / 故障検知 / 漏えい電磁情報 / / / / / |
| （英） | encryption device / fault detection / leaked EM information / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 32, EMCJ2017-9, pp. 5-6, 2017年5月. | |
| 資料番号 | EMCJ2017-9 | |
| 発行日 | 2017-05-11 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| 査読に ついて |
本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります． | |
| PDFダウンロード | EMCJ2017-9 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ IEE-EMC IEE-MAG |
| 開催期間 | 2017-05-18 - 2017-05-19 |
| 開催地（和） | 南洋理工大学 |
| 開催地（英） | Nanyang Technological University |
| テーマ（和） | EMC Joint Workshop, 2017, Singapore |
| テーマ（英） | EMC Joint Workshop, 2017, Singapore |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2017-05-EMCJ-EMC-MAG |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | 暗号機器の故障検知のための加算回路の漏えい電磁情報計測 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Method of Fault Detection in Encryption Device Based on Leaked EM Information from Adder Circuit |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 暗号機器 / encryption device |
| キーワード(2)（和/英） | 故障検知 / fault detection |
| キーワード(3)（和/英） | 漏えい電磁情報 / leaked EM information |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 嵯峨 直人 / Naoto Saga / サガ ナオト |
| 第1著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 水木 敬明 / Takaaki Mizuki / ミズキ タカアキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 曽根 秀昭 / Hideaki Sone / ソネ ヒデアキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-05-18 14:43:00 |
| 発表時間 | 3分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2017-9 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.32 |
| ページ範囲 | pp.5-6 |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2017-05-11 (EMCJ) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]