講演抄録/キーワード |
講演名 |
2017-06-20 16:50
エピタキシャルAg(111)上の極薄IV族結晶形成 ○伊藤公一・大田晃生・黒澤昌志・洗平昌晃・池田弥央・牧原克典・宮崎誠一(名大) SDM2017-30 |
抄録 |
(和) |
卓越した電子物性が理論予測されているSiやGeなどのIV族元素の二次元結晶を作成することを目指し、SiやGeと共晶反応を示すAgを用いて、下地基板からSiやGeを熱拡散させ、Ag表面に析出することで、二次元結晶を合成する方法を探究した。具体的には、Si(111)、SiGe(111)、およびGe(111)に形成したAgの化学構造と表面の安定性を調べるとともに、熱処理による表面平坦化と元素析出について系統的に調べた。450℃で熱処理したAg/Ge(111)では、表面に特徴的な三回対称構造がAFM像より認められ、原子数層の極薄Ge膜を極平坦なAg上に形成できたことを光電子分光分析により明らかにした。 |
(英) |
Two dimensional (2D) honeycomb crystals such as silicene and germanene are currently receiving much attention because of its exceptional electronic properties. We have studied the growth of such 2D crystals using the segregation of Si (or Ge) on the Ag surface by the annealing of Ag/Si(or SiGe, Ge) structure. An Ag(111) layer was epitaxially grown on Si(111), Ge(111), and SiGe(111) substrate by thermal evaporation, and the chemical and thermal stability of Ag surface were systematically evaluated to get the atomically flat Ag surface. After the annealing of Ag/Ge(111) structure at 450℃ in N2 ambience, segration of Ge atoms with an average thickness of bi-layer on the atomically flat Ag surface were observed from the analyses of AFM and HAXPES measurements. |
キーワード |
(和) |
2次元結晶 / IV族半導体 / 原子間力顕微鏡 / X線光電子分光 / / / / |
(英) |
Two Dimensional Crystal / Group-IV Semiconductor / Atomic Force Microscope / X-ray Photoelectron Spectroscopy / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 117, no. 101, SDM2017-30, pp. 43-48, 2017年6月. |
資料番号 |
SDM2017-30 |
発行日 |
2017-06-13 (SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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SDM2017-30 |