講演抄録/キーワード |
講演名 |
2017-10-26 13:00
[依頼講演]28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術 ○下井貴裕・斉藤朋也・長瀬寛和・伊豆名雅之・神田明彦・伊藤 孝・河野隆司(ルネサス エレクトロニクス) SDM2017-58 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2017-58 |
抄録 |
(和) |
28nmスプリットゲートMONOS(SG-MONOS)型フラッシュメモリを用いた、ハードウェアセキュリティ向けの高信頼のPhysical Unclonable Functions (PUF)に関して報告する。SG-MONOSの初期Vtを利用したPUFを試作し、電圧、温度、経時変化に対しての安定性を確認した。さらに、新たに実装されたオフセット読み出し方式により、ECCを用いずにPUFのエラー率0%を達成した。 |
(英) |
Highly reliable Physical Unclonable Functions (PUF) based on 28nm Split-Gate MONOS (SG-MONOS) embedded flash memory is developed for hardware security applications. In this paper, we investigate wide range tolerance on applied voltage, temperature and aging influence for basic PUF characteristics utilizing SG-MONOS initial Vt variation. High-temperature stable PUF at the junction temperature (Tj) of 170oC can be confirmed by applying widely used automotive quality SG-MONOS flash memory. In addition, newly implemented offset read scheme achieves 0% error rate for PUF reliability without ECC. |
キーワード |
(和) |
Flash Memory / SG-MONOS / security / Physical Unclonable Functions (PUF) / offset read / / / |
(英) |
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文献情報 |
信学技報, vol. 117, no. 260, SDM2017-58, pp. 45-49, 2017年10月. |
資料番号 |
SDM2017-58 |
発行日 |
2017-10-18 (SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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