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講演抄録/キーワード
講演名 2017-10-26 13:30
スクライブ上モニタパタンのシート抵抗測定によるイメージセンサの空乏化電位管理について
後藤洋太郎ルネサスセミコンダクタマニュファクチャリング)・山口 直松浦正純ルネサス エレクトロニクス)・飯塚康治ルネサスセミコンダクタマニュファクチャリングSDM2017-59 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2017-59
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文献情報 信学技報, vol. 117, no. 260, SDM2017-59, pp. 51-55, 2017年10月.
資料番号 SDM2017-59 
発行日 2017-10-18 (SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2017-59 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2017-59

研究会情報
研究会 SDM  
開催期間 2017-10-25 - 2017-10-26 
開催地(和) 東北大学未来研 
開催地(英) Niche, Tohoku Univ. 
テーマ(和) プロセス科学と新プロセス技術 
テーマ(英) Process Science and New Process Technology 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2017-10-SDM 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) スクライブ上モニタパタンのシート抵抗測定によるイメージセンサの空乏化電位管理について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Pinning Voltage Control of CMOS Image Sensor by measuring sheet resistance at micro test structure in scribe line 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 後藤 洋太郎 / Yotaro Goto / ゴトウ ヨウタロウ
第1著者 所属(和/英) ルネサスセミコンダクタマニュファクチャリング (略称: ルネサスセミコンダクタマニュファクチャリング)
Renesas Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. (略称: RSMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 直 / Tadasihi Yamaguchi / ヤマグチ タダシ
第2著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics (略称: REL)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 松浦 正純 / Masazumi Matsuura / マツウラ マサズミ
第3著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics (略称: REL)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯塚 康治 / Koji Iizuka / イイズカ コウジ
第4著者 所属(和/英) ルネサスセミコンダクタマニュファクチャリング (略称: ルネサスセミコンダクタマニュファクチャリング)
Renesas Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. (略称: RSMC)
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講演者 第1著者 
発表日時 2017-10-26 13:30:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2017-59 
巻番号(vol) vol.117 
号番号(no) no.260 
ページ範囲 pp.51-55 
ページ数
発行日 2017-10-18 (SDM) 


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