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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-10-26 14:00 高精度アレイテスト回路計測技術を用いたソースフォロアトランジスタの動作条件変化によるランダムテレグラフノイズの挙動解析 ○市野真也・間脇武蔵・寺本章伸・黒田理人・若嶋駿一・須川成利（東北大）  SDM2017-60 |
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| 抄録 | （和） | CMOSイメージセンサ（CIS）の画素内ソースフォロアトランジスタ（SF）で発生するランダムテレグラフノイズ（RTN）について，ドレイン電流やバックバイアス等のSFの動作条件を変化させた際の挙動解析を，高精度アレイテスト回路測定技術を用いて行った．多数のトランジスタの測定による統計的な挙動解析に加え，個別のトランジスタにおける挙動にも着目し，振幅や時定数といったRTNを特徴づけるパラメータのドレイン電流・バックバイアス依存性を評価することで，RTNの発生メカニズムを考察するとともに，RTNの低減に資する，CISのSF動作条件がRTNに与える影響を明らかにした． |
| （英） | Behaviors of random telegraph noise (RTN) occurs at CMOS image sensors’ in-pixel source follower transistors (SF) toward changes of SF operating conditions such as SF drain current and back bias were analyzed by using high accuracy array test circuit. The influences of SF operating condition that contribute to reduce RTN were clarified by the evaluation of the dependency of SF drain current and back bias to the RTN parameters such as amplitude and time constants. In this work, in addition to statistical analysis by the measurement of a large number of the transistors, we also analyzed the behaviors of RTN parameters in the individual transistors. | |
| キーワード | （和） | CMOSイメージセンサ / 画素ソースフォロア / ランダムテレグラフノイズ / / / / / |
| （英） | CMOS image sensor / in-pixel source follower / random telegraph noise / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 260, SDM2017-60, pp. 57-62, 2017年10月. | |
| 資料番号 | SDM2017-60 | |
| 発行日 | 2017-10-18 (SDM) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2017-60 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM |
| 開催期間 | 2017-10-25 - 2017-10-26 |
| 開催地（和） | 東北大学未来研 |
| 開催地（英） | Niche, Tohoku Univ. |
| テーマ（和） | プロセス科学と新プロセス技術 |
| テーマ（英） | Process Science and New Process Technology |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2017-10-SDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高精度アレイテスト回路計測技術を用いたソースフォロアトランジスタの動作条件変化によるランダムテレグラフノイズの挙動解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of Random Telegraph Noise Behaviors toward Changes of Source Follower Transistor Operation Conditions using High Accuracy Array Test Circuit |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | CMOSイメージセンサ / CMOS image sensor |
| キーワード(2)（和/英） | 画素ソースフォロア / in-pixel source follower |
| キーワード(3)（和/英） | ランダムテレグラフノイズ / random telegraph noise |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市野 真也 / Shinya Ichino / イチノ シンヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 間脇 武蔵 / Takezo Mawaki / マワキ タケゾウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 寺本 章伸 / Akinobu Teramoto / テラモト アキノブ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 黒田 理人 / Rihito Kuroda / クロダ リヒト |
| 第4著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 若嶋 駿一 / Shunichi Wakashima / ワカシマ シュンイチ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 須川 成利 / Shigetoshi Sugawa / スガワ シゲトシ |
| 第6著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-10-26 14:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | SDM2017-60 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.260 |
| ページ範囲 | pp.57-62 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-10-18 (SDM) |
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