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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-11-07 09:00 スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について ○大島繁之・加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）  VLD2017-41 DC2017-47 |
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| 抄録 | （和） | 論理BISTにおける故障検出率向上のために，マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案されている．しかし既存手法では，中間観測するFF数，すなわち中間観測による面積オーバヘッドと故障検出率とはトレードオフの関係にある．本研究では，テスト対象回路の回路接続情報を解析することで，故障検出率向上及び回路面積増大を抑制する中間観測FF選出手法を提案する．評価実験により，面積オーバヘッドは既存手法から87.5 %削減が可能であることを確認できた． |
| （英） | A logic BIST scheme using multi-cycle test with partial observation has been proposed. In the scheme, the selection of flip-flops for partial observation plays an important role for improving the fault coverage and reducing the area overhead. This paper proposes a selection method of flip-flops for partial observation that can maximize the fault coverage under the limitation of the number of flip-flops. Experimental results show that the proposed method can obtain higher fault coverage than the existing flip-flop selection method and results in less area overhead. | |
| キーワード | （和） | BIST / スキャンテスト / マルチサイクルテスト / 中間観測 / / / / |
| （英） | BIST / Scan Test / Multi-Cycle Test / Partial Observation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 274, DC2017-47, pp. 85-90, 2017年11月. | |
| 資料番号 | DC2017-47 | |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2017-41 DC2017-47 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2017-11-06 - 2017-11-08 |
| 開催地（和） | くまもと県民交流館パレア |
| 開催地（英） | Kumamoto-Kenminkouryukan Parea |
| テーマ（和） | デザインガイア2017 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2017 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2017-11-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Flip-Flop Selection for Multi-Cycle Test with Partial Observation in Scan-Based Logic BIST |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンテスト / Scan Test |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルテスト / Multi-Cycle Test |
| キーワード(4)（和/英） | 中間観測 / Partial Observation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大島 繁之 / Shigeyuki Oshima / オオシマ シゲユキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-11-07 09:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2017-41, DC2017-47 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.273(VLD), no.274(DC) |
| ページ範囲 | pp.85-90 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) |
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