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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-11-07 14:00 トリガ条件の異なるハードウェアトロイの設計とSVMを用いた検出 ○井上智貴・長谷川健人（早大）・小林悠記（NEC）・柳澤政生・戸川 望（早大）  VLD2017-51 DC2017-57 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 273, VLD2017-51, pp. 133-138, 2017年11月. | |
| 資料番号 | VLD2017-51 | |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2017-51 DC2017-57 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2017-11-06 - 2017-11-08 |
| 開催地（和） | くまもと県民交流館パレア |
| 開催地（英） | Kumamoto-Kenminkouryukan Parea |
| テーマ（和） | デザインガイア2017 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2017 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2017-11-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | トリガ条件の異なるハードウェアトロイの設計とSVMを用いた検出 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | * |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
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| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智貴 / Tomotaka Inoue / イノウエ トモタカ |
| 第1著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 健人 / Kento Hasegawa / ハセガワ ケント |
| 第2著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 悠記 / Yuki Kobayashi / コバヤシ ユウキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC (略称： NEC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa / ヤナギサワ マサオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 戸川 望 / Nozomu Togawa / トガワ ノゾム |
| 第5著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-11-07 14:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2017-51, DC2017-57 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.273(VLD), no.274(DC) |
| ページ範囲 | pp.133-138 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) |
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