ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2017-11-10 13:00
マージン最大化距離学習におけるセーフスクリーニング
吉田知貴名工大)・竹内一郎名工大/物質・材料研究機構/理研)・烏山昌幸名工大/物質・材料研究機構/JSTIBISML2017-64
抄録 (和) 分類問題において,最適な距離尺度をデータから推定する枠組みとして距離学習が知られている.本稿では特に,マージン最大化原理に基いてマハラノビス距離を学習するマージン最大化距離学習(Large Margin Metric Learning)に着目する.この手法では,非常に多いサンプルの3つ組(triplet)を考えなければならず,学習に時間がかかる.しかし,学習の前や途中に最適解の存在範囲(バウンド)を考えることで,実際には学習に不要なtripletを排除すること(スクリーニング)ができ,学習時間を減らすことができる.我々は,スクリーニングに利用可能な複数のバウンドを導出し,計算機実験によりその効果を比較・検討する. 
(英) Large margin metric learning learns the optimal Mahalanobis distance for classification problem based on the margin maximization principle. The loss function in this method is defined for triples of instances, called triplet. However, the number of triplets can be huge even for small datasets and it causes large computational cost for the optimization. In this paper, we propose safe triplet screening by which unnecessary triplets can be safely eliminated before or during learning without loosing the optimality. We analyze several types of screening rules derived by considering a region (bound) containing the optimal solution, and evaluate effectiveness of the proposed method by experiments on several benchmark datasets.
キーワード (和) マハラノビス距離 / セーフスクリーニング / 距離学習 / / / / /  
(英) Mahalanobis distance / Safe Screening / Metric Learning / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 293, IBISML2017-64, pp. 219-226, 2017年11月.
資料番号 IBISML2017-64 
発行日 2017-11-02 (IBISML) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード IBISML2017-64

研究会情報
研究会 IBISML  
開催期間 2017-11-08 - 2017-11-10 
開催地(和) 東京大学 
開催地(英) Univ. of Tokyo 
テーマ(和) 情報論的学習理論ワークショップ (IBIS2017) 
テーマ(英) Information-Based Induction Science Workshop (IBIS2017) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IBISML 
会議コード 2017-11-IBISML 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) マージン最大化距離学習におけるセーフスクリーニング 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Safe Screening for Large Margin Metric Learning 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) マハラノビス距離 / Mahalanobis distance  
キーワード(2)(和/英) セーフスクリーニング / Safe Screening  
キーワード(3)(和/英) 距離学習 / Metric Learning  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 知貴 / Tomoki Yoshida / ヨシダ トモキ
第1著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NITech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 一郎 / Ichiro Takeuchi / タケウチ イチロウ
第2著者 所属(和/英) 名古屋工業大学/物質・材料研究機構/理化学研究所 (略称: 名工大/物質・材料研究機構/理研)
Nagoya Institute of Technology/National Institute for Material Science/Institute of Physical and Chemical Research (略称: NITech/NIMS/RIKEN)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 烏山 昌幸 / Masayuki Karasuyama / カラスヤマ マサユキ
第3著者 所属(和/英) 名古屋工業大学/物質・材料研究機構/科学技術振興機構 (略称: 名工大/物質・材料研究機構/JST)
Nagoya Institute of Technology/National Institute for Material Science/Japan Science and Technology Agency (略称: NITech/NIMS/JST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2017-11-10 13:00:00 
発表時間 150分 
申込先研究会 IBISML 
資料番号 IBISML2017-64 
巻番号(vol) vol.117 
号番号(no) no.293 
ページ範囲 pp.219-226 
ページ数
発行日 2017-11-02 (IBISML) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会