講演抄録/キーワード |
講演名 |
2017-11-10 10:00
半陰的FDTD法を用いた静電気放電により発生する過渡電磁界の数値シミュレーション ○藤田和広(富士通) EMT2017-56 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMT2017-56 |
抄録 |
(和) |
近年の電子機器の開発では,数値シミュレーションにより設計段階において静電気放電(ESD)ノイズ耐性を評価し,ESDノイズ低減のための対策を事前に検討することが必須となっている.実製品におけるESDノイズ耐性解析では複雑な形状や多種多様な媒質の取り扱いが容易な時間領域有限差分(FDTD)法がよく用いられる.しかし,FDTD法では数値モデル内に薄い構造や短い空隙が存在する場合,数値安定条件を満足する時間離散間隔が非常に小さくなるという問題点がある.これに対して,筆者は従来法よりも数値安定条件が緩和された半陰解法に基づく新たなFDTD法(半陰的FDTD法)の開発を行ってきた.本稿では,これまで開発してきた半陰的FDTD法の関連技術を概説し,実用的な薄い金属筐体に対するESD現象の解析において同手法の有効性を示す. |
(英) |
In recent years, it is necessary to evaluate electrostatic discharge (ESD) immunity using numerical simulation in a design process of electronic equipment, and to consider effective countermeasures in advance. For the ESD immunity analysis of actual products, the conventional finite-difference time-domain (FDTD) method has been commonly used. However, the maximum stable time step size allowed for the stability condition of the FDTD method has to be reduced in the analysis of problems with thin structures or a short air gap. In order to overcome this problem, the author has been working on the development of a new semi-implicit FDTD method with a relaxed stability condition and its extensions. In this work, we outline the developed semi-implicit FDTD method and its relevant techniques, and then show its effectiveness in the analysis of ESD events for a practical thin metallic chassis. |
キーワード |
(和) |
FDTD法 / Newmark-Beta法 / 静電気放電 / 過渡電磁界 / / / / |
(英) |
FDTD method / Newmark-Beta method / electrostatic discharge / transient electromagnetic field / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 117, no. 289, EMT2017-56, pp. 103-108, 2017年11月. |
資料番号 |
EMT2017-56 |
発行日 |
2017-11-02 (EMT) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
EMT2017-56 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMT2017-56 |
研究会情報 |
研究会 |
EMT IEE-EMT |
開催期間 |
2017-11-09 - 2017-11-11 |
開催地(和) |
山形県天童温泉天童ホテル |
開催地(英) |
Tendo Hotel (Tendo, Yamagata) |
テーマ(和) |
電磁界理論一般 |
テーマ(英) |
Electromagnetic Theory, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
EMT |
会議コード |
2017-11-EMT-EMT |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
半陰的FDTD法を用いた静電気放電により発生する過渡電磁界の数値シミュレーション |
サブタイトル(和) |
|
タイトル(英) |
Numerical simulation of transient electromagnetic field caused by electrostatic discharge using the semi-implicit FDTD method |
サブタイトル(英) |
|
キーワード(1)(和/英) |
FDTD法 / FDTD method |
キーワード(2)(和/英) |
Newmark-Beta法 / Newmark-Beta method |
キーワード(3)(和/英) |
静電気放電 / electrostatic discharge |
キーワード(4)(和/英) |
過渡電磁界 / transient electromagnetic field |
キーワード(5)(和/英) |
/ |
キーワード(6)(和/英) |
/ |
キーワード(7)(和/英) |
/ |
キーワード(8)(和/英) |
/ |
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
藤田 和広 / Kazuhiro Fujita / フジタ カズヒロ |
第1著者 所属(和/英) |
富士通株式会社 (略称: 富士通)
Fujitsu Limited (略称: Fujitsu) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第2著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第3著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第4著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第5著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第6著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第7著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第8著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第9著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第10著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第11著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第12著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第13著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第14著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第15著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第16著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第17著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第18著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第19著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第20著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2017-11-10 10:00:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
EMT |
資料番号 |
EMT2017-56 |
巻番号(vol) |
vol.117 |
号番号(no) |
no.289 |
ページ範囲 |
pp.103-108 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2017-11-02 (EMT) |