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講演抄録/キーワード
講演名 2017-11-16 14:00
湿度加速試験一考察
伊藤貞則イトケン事務所R2017-50
抄録 (和) 日本で使用される電子機器にとって湿度ストレスはその信頼性を劣化させる大きな要因である。したがって湿度ストレスによる信頼性試験は非常に重要なものである。しかし湿度ストレスが信頼性低下に及ぼすメカニズムは種類が多く適切な評価方法になっていないことも多い。とりわけ高温高湿にすれば加速になるという感覚で試験されることも多く、失敗事例となることもある。ここではエレクトロケミカルマイグレーション伸長試験も含めて湿度加速性について考察する 
(英) The humidity stress against electronics used in Japan cause the big influence for reliability. So, the humidity stress reliability test is significant. However, the mechanism of humidity stress is so various that the evaluation method may not be suitable to cover all cases. Especially, high temperature and high humidity test tend to be regarded as the acceleration test, this assumption leads to the wrong example. Here, the humidity acceleration is considered involved the electro chemical migration test.
キーワード (和) 絶対水蒸気圧モデル / 相対湿度モデル / 温湿度サイクル試験 / / / / /  
(英) Absolute water vapor pressure model / Relative humidity model / Temperature-Humidity Cycle test / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 302, R2017-50, pp. 1-4, 2017年11月.
資料番号 R2017-50 
発行日 2017-11-09 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2017-50

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2017-11-16 - 2017-11-16 
開催地(和) 大阪中央電気俱楽部 
開催地(英)  
テーマ(和) 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2017-11-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 湿度加速試験一考察 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Study for Accelerated Humidity Stress Test 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 絶対水蒸気圧モデル / Absolute water vapor pressure model  
キーワード(2)(和/英) 相対湿度モデル / Relative humidity model  
キーワード(3)(和/英) 温湿度サイクル試験 / Temperature-Humidity Cycle test  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 貞則 / Sadanori Ito / イトウ サダノリ
第1著者 所属(和/英) イトケン事務所 (略称: イトケン事務所)
Itoken Office (略称: Itoken)
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講演者 第1著者 
発表日時 2017-11-16 14:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2017-50 
巻番号(vol) vol.117 
号番号(no) no.302 
ページ範囲 pp.1-4 
ページ数
発行日 2017-11-09 (R) 


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