講演抄録/キーワード |
講演名 |
2017-11-16 14:00
湿度加速試験一考察 ○伊藤貞則(イトケン事務所) R2017-50 |
抄録 |
(和) |
日本で使用される電子機器にとって湿度ストレスはその信頼性を劣化させる大きな要因である。したがって湿度ストレスによる信頼性試験は非常に重要なものである。しかし湿度ストレスが信頼性低下に及ぼすメカニズムは種類が多く適切な評価方法になっていないことも多い。とりわけ高温高湿にすれば加速になるという感覚で試験されることも多く、失敗事例となることもある。ここではエレクトロケミカルマイグレーション伸長試験も含めて湿度加速性について考察する |
(英) |
The humidity stress against electronics used in Japan cause the big influence for reliability. So, the humidity stress reliability test is significant. However, the mechanism of humidity stress is so various that the evaluation method may not be suitable to cover all cases. Especially, high temperature and high humidity test tend to be regarded as the acceleration test, this assumption leads to the wrong example. Here, the humidity acceleration is considered involved the electro chemical migration test. |
キーワード |
(和) |
絶対水蒸気圧モデル / 相対湿度モデル / 温湿度サイクル試験 / / / / / |
(英) |
Absolute water vapor pressure model / Relative humidity model / Temperature-Humidity Cycle test / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 117, no. 302, R2017-50, pp. 1-4, 2017年11月. |
資料番号 |
R2017-50 |
発行日 |
2017-11-09 (R) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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R2017-50 |