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講演抄録/キーワード
講演名 2017-11-16 15:30
HALTにおけるストレスの効果
ピエ ラファエル平田拓哉河合秀己青木雄一エスペックR2017-53
抄録 (和) HALT(Highly Accelerated Limit Test)は,厳しいストレスを与え,短時間で製品の相対的な弱点を検出する加速試験である.本報では,HALTストレスの特徴である6自由度の振動と複合環境(温度と振動の組み合わせ)に焦点をあて,アルミ電解コンデンサー実装基板と超高抵抗実装基板におけるHALTのストレスの効果を検証した.その結果,HALTの試験条件によって,異なる結果の定量的評価を示すことができた.一方,HALTのストレスの効果と従来の信頼性試験による効果の違いを確認し,故障モードの差異や類似性及び加速性について検討した結果を報告する. 
(英) HALT (Highly Accelerated Limit Test) is an accelerated test which, by applying severe stresses, can identify the relative weaknesses of a product in a short amount of time. In this report, by focusing on the 6 degree of freedom vibration and the combined environment (temperature and vibration), which are characteristic stresses of HALT, the effects of stresses in HALT have been verified using an aluminum electrolytic capacitor mounting board and an ultrahigh resistance mounting board. As a result, it has been possible to quantitatively evaluate the differences in the test results, depending on the HALT test conditions. Moreover, from the effects of the stresses in HALT and in the traditional reliability tests, the difference in these effects have been verified, and the results of the investigation regarding the difference or similarity in the failure modes along with the acceleration factor are presented.
キーワード (和) HALT / 加速試験 / 複合試験 / 温度サイクル / 信頼性 / 振動 / 6自由度 / はんだクラック  
(英) HALT / Accelerated Test / Combined Test / Temperature Cycle / Reliability / Vibration / 6 Degree of Freedom / Solder Crack  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 302, R2017-53, pp. 13-16, 2017年11月.
資料番号 R2017-53 
発行日 2017-11-09 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2017-53

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2017-11-16 - 2017-11-16 
開催地(和) 大阪中央電気俱楽部 
開催地(英)  
テーマ(和) 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2017-11-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) HALTにおけるストレスの効果 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Effects on Stresses in HALT 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) HALT / HALT  
キーワード(2)(和/英) 加速試験 / Accelerated Test  
キーワード(3)(和/英) 複合試験 / Combined Test  
キーワード(4)(和/英) 温度サイクル / Temperature Cycle  
キーワード(5)(和/英) 信頼性 / Reliability  
キーワード(6)(和/英) 振動 / Vibration  
キーワード(7)(和/英) 6自由度 / 6 Degree of Freedom  
キーワード(8)(和/英) はんだクラック / Solder Crack  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) ピエ ラファエル / Raphael Pihet / ピエ ラファエル
第1著者 所属(和/英) エスペック株式会社 (略称: エスペック)
ESPEC CORP. (略称: ESPEC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 平田 拓哉 / Takuya Hirata / ヒタラ タクヤ
第2著者 所属(和/英) エスペック株式会社 (略称: エスペック)
ESPEC CORP. (略称: ESPEC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 河合 秀己 / Hideki Kawai / カワイ ヒデキ
第3著者 所属(和/英) エスペック株式会社 (略称: エスペック)
ESPEC CORP. (略称: ESPEC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 青木 雄一 / Aoki Yuichi / アオキ ユウイチ
第4著者 所属(和/英) エスペック株式会社 (略称: エスペック)
ESPEC CORP. (略称: ESPEC)
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講演者 第1著者 
発表日時 2017-11-16 15:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2017-53 
巻番号(vol) vol.117 
号番号(no) no.302 
ページ範囲 pp.13-16 
ページ数
発行日 2017-11-09 (R) 


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