| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-12-14 10:40 統計的コンパレータを用いたレベルクロス検出手法の性能解析 ○杉山泰基・飯塚哲也（東大）・山口隆弘（アドバンテスト研）・名倉 徹・浅田邦博（東大）  CAS2017-66 ICD2017-54 CPSY2017-63 |
|
| 抄録 | （和） | レベルクロス検出手法にもとづくADCでは電圧ではなく時間を量子化する。クロック周波数を2倍としたとき、通常のADCではSNRが3dB改善するが、レベルクロス検出手法にもとづくADCでは6dB改善することが知られており、微細化により向上した時間分解能の恩恵をより享受できる。 一方で、分解能向上のために複数の比較器を並列駆動する統計的コンパレータが提案されている。統計的コンパレータでは、小さなコンパレータを複数並べることで、プロセス微細化によりその影響が大きくなっているオフセットやノイズによる統計的性質を活用し精度向上を達成する。 本稿では、統計的コンパレータを用いたレベルクロス検出手法の精度について定式化を行い、その解析を行った。コンパレータ全体が同じ面積を占める場合、統計的コンパレータを用いたレベルクロス検出は、単一のコンパレータを用いた場合に比べて検出精度が向上することを示す。 |
| （英） | ADC based on level-cross detection quantizes time rather than voltage. When the clock frequency is doubled, SNR of ADC improves 3dB whereas that of level-crossing ADC improves 6dB. Therefore, level-crossing ADC benefits more from fine time resolution in scaled technologies. A stochastic comparator that drives multiple comparators in parallel is proposed to improve both voltage and time resolutions by utilizing stochastic nature of offset and noise whose impact is increasing through process miniaturization. In this paper, we analyze the resolution of level cross detection method based on a stochastic comparator and formulate its performance. We show that the level cross detection exhibits finer resolution compared to that uses the single comparator with the same total area of comparators. |
|
| キーワード | （和） | 統計的コンパレータ / レベルクロス検出 / ADC / 熱雑音 / PVTばらつき / / / |
| （英） | stochastic comparator / level cross detection / ADC / thermal noise / PVT variation / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 344, ICD2017-54, pp. 15-20, 2017年12月. | |
| 資料番号 | ICD2017-54 | |
| 発行日 | 2017-12-07 (CAS, ICD, CPSY) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2017-66 ICD2017-54 CPSY2017-63 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD CPSY CAS |
| 開催期間 | 2017-12-14 - 2017-12-15 |
| 開催地（和） | アートホテル石垣島 |
| 開催地（英） | Art Hotel Ishigakijima |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2017-12-ICD-CPSY-CAS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 統計的コンパレータを用いたレベルクロス検出手法の性能解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Performance Analysis of Level-Cross Detection Method based on Stochastic Comparator |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 統計的コンパレータ / stochastic comparator |
| キーワード(2)（和/英） | レベルクロス検出 / level cross detection |
| キーワード(3)（和/英） | ADC / ADC |
| キーワード(4)（和/英） | 熱雑音 / thermal noise |
| キーワード(5)（和/英） | PVTばらつき / PVT variation |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 杉山 泰基 / Taiki Sugiyama / スギヤマ タイキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 飯塚 哲也 / Tetsuya Iizuka / イイヅカ テツヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山口 隆弘 / Takahiro Yamaguchi / ヤマグチ タカヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト研究所 (略称： アドバンテスト研) Advantest Laboratories Ltd. (略称： Advantest) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 名倉 徹 / Toru Nakura / ナクラ トオル |
| 第4著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 浅田 邦博 / Kunihiro Asada / アサダ クニヒロ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-12-14 10:40:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | CAS2017-66, ICD2017-54, CPSY2017-63 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.343(CAS), no.344(ICD), no.345(CPSY) |
| ページ範囲 | pp.15-20 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-12-07 (CAS, ICD, CPSY) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]