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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-12-15 15:05 ビアオープン故障を考慮した重み付き故障カバレージに関する検討 ○小林泰生・岩崎一彦（首都大東京）  DC2017-74 |
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| 抄録 | （和） | クリティカルエリアに基づく重み付き故障カバレージを用いて出荷VLSIチップの欠陥レベルを低減させる手法が提案されている．本研究では，ブリッジ故障とオープン故障に加え，ビアオープン故障を対象とした重み付き故障カバレージについて検討を行う．まず，ビアクリティカルエリアの分布に基づき，ブリッジ故障テストパターンからビアオープン故障をすべて検出するテストパターンを選択する．次に，Greedy法とWindow法を用いて残存故障に対するテストパターンを圧縮する手法を提案する．これらの手法により，対象ベンチマーク回路に対して必要な故障検出テストパターン数が，ブリッジ故障を検出するATPGパターンよりも20%程度削減できることを示す． |
| （英） | Methods to reduce defect level for VLSI chips have been developed, which is based on weighted fault coverage using critical area . In this manuscript, not only bridge and open faults but also via open faults are considered to calculate the weighted fault coverage. First, a test pattern set that can detect via open faults is selected from those for bridge faults. Next, a set of test pattern are compressed that can detect the remaining faults. The results show the proposed technique reduce the size of the test pattern set by about 20% compared to that for bridge faults generated by an ATPG tool. | |
| キーワード | （和） | クリティカルエリア / 重み付き故障かバレージ / ビアオープン故障 / ブリッジ故障 / オープン故障 / / / |
| （英） | Critical area / Weighted fault coverage / Via open fault / Bridge fault / Open fault / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 359, DC2017-74, pp. 31-36, 2017年12月. | |
| 資料番号 | DC2017-74 | |
| 発行日 | 2017-12-08 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2017-74 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2017-12-15 - 2017-12-15 |
| 開催地（和） | 放送大学秋田学習センター |
| 開催地（英） | Akita Study Center, The Open University of Japan |
| テーマ（和） | （第２回）Winter Workshop on safety - 安全性に関する冬のワークショップ - |
| テーマ（英） | Winter Workshop on safety |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2017-12-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ビアオープン故障を考慮した重み付き故障カバレージに関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Weighted Fault Coverage Considering Via Open Faults |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | クリティカルエリア / Critical area |
| キーワード(2)（和/英） | 重み付き故障かバレージ / Weighted fault coverage |
| キーワード(3)（和/英） | ビアオープン故障 / Via open fault |
| キーワード(4)（和/英） | ブリッジ故障 / Bridge fault |
| キーワード(5)（和/英） | オープン故障 / Open fault |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 泰生 / Taiki Kobayashi / コバヤシ タイキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： TMU) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩崎 一彦 / Kazuhiko Iwasaki / イワサキ カズヒコ |
| 第2著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： TMU) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-12-15 15:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2017-74 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.359 |
| ページ範囲 | pp.31-36 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-12-08 (DC) |
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