研究会情報 |
研究会 |
EE |
開催期間 |
2018-01-29 - 2018-01-30 |
開催地(和) |
サテライトキャンパスおおいた (大分市) |
開催地(英) |
Satellite Campus Oita |
テーマ(和) |
回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連,一般 |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
EE |
会議コード |
2018-01-EE |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
系統故障発生時におけるマイクログリッドの動特性の検討 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Study of Dynamic Characteristics of Microgrid at System Failure Occurrence |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
新實 健秀 / Kenshu Niimi / ニイミ ケンシュウ |
第1著者 所属(和/英) |
愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
大脇 大輝 / Daiki Owaki / オオワキ ダイキ |
第2著者 所属(和/英) |
愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
雪田 和人 / Kazuto Yukita / ユキタ カズト |
第3著者 所属(和/英) |
愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
松村 年郎 / Toshiro Matsumura / マツムラ トシロウ |
第4著者 所属(和/英) |
愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
後藤 泰之 / Yasuyuki Goto / ゴトウ ヤスユキ |
第5著者 所属(和/英) |
愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
谷口 和彦 / Kazuhiko Taniguchi / タニグチ カズヒコ |
第6著者 所属(和/英) |
株式会社きんでん (略称: きんでん)
Kinden Corporation (略称: Kinden) |
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
森田 祐志 / Hiroshi Morita / モリタ ヒロシ |
第7著者 所属(和/英) |
株式会社きんでん (略称: きんでん)
Kinden Corporation (略称: Kinden) |
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第21著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第22著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第23著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第24著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第25著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第27著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2018-01-29 13:15:00 |
発表時間 |
80分 |
申込先研究会 |
EE |
資料番号 |
EE2017-56 |
巻番号(vol) |
vol.117 |
号番号(no) |
no.424 |
ページ範囲 |
pp.81-86 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2018-01-22 (EE) |