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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-03-27 15:40 光電界プローブを用いた電子機器内部へ流入する静電気ノイズ測定の有効性検証 ○中園祐司（日立）  SSS2017-35 |
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| 抄録 | （和） | 電子機器の電磁妨害による誤動作は安全性に直結する場合があるため，設置環境に対する十分なイミュニティを持たせる必要がある．電子機器内部に流入するノイズを一般的なプローブを用いて測定しようとすると，プローブヘッドおよびケーブルにノイズが重畳してしまい正確な測定ができない．よって，物理的に一部をシールディングするなどして，ノイズ流入経路を推定していた．本稿では，光電界プローブを用いて電子機器内部に流入する静電気ノイズを測定し，ノイズ流入経路の特定を試みた． |
| （英） | Miss operation of an electronic equipment due to electromagnetic disturbance may directly lead to abnormal situation, so it is necessary for the electronic equipment to have sufficient immunity corresponding to the installation environment. When measuring noise inflowing to an electronic equipment using a general electric probe, it is impossible to perform accurate measurement because ambient noise is superimposed on the probe head and the cable. For this reason, in order to estimate the noise inflow path, it was physically way that partially shielding or like that. In this paper, to identify the inflow route of electrostatic discharge noise we measured the noice inflowing to an eletronic equipment using an optical electric field probe. | |
| キーワード | （和） | イミュニティ / 光電界 / ESD / / / / / |
| （英） | Immunity / Optical Electric Filed / ESD / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 521, SSS2017-35, pp. 17-20, 2018年3月. | |
| 資料番号 | SSS2017-35 | |
| 発行日 | 2018-03-20 (SSS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SSS2017-35 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SSS |
| 開催期間 | 2018-03-27 - 2018-03-27 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 安全性一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SSS |
| 会議コード | 2018-03-SSS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 光電界プローブを用いた電子機器内部へ流入する静電気ノイズ測定の有効性検証 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Efficiency verification of Measurement of Electrostatic Discharge Noise that inflowing to an Electronic Equipment using an Optical Electric Field Probe |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | イミュニティ / Immunity |
| キーワード(2)（和/英） | 光電界 / Optical Electric Filed |
| キーワード(3)（和/英） | ESD / ESD |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中園 祐司 / Yuji Nakazono / ナカゾノ ユウジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社日立製作所 (略称： 日立) Hitachi Ltd. (略称： Hitachi) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-03-27 15:40:00 |
| 発表時間 | 35分 |
| 申込先研究会 | SSS |
| 資料番号 | SSS2017-35 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.521 |
| ページ範囲 | pp.17-20 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2018-03-20 (SSS) |
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