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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-06-15 16:25 亜種ハードウェアトロイの設計とそのニューラルネットワークを用いた検出 ○井上智貴・長谷川健人（早大）・小林悠記（NEC）・柳澤政生・戸川 望（早大）  CAS2018-33 VLD2018-36 SIP2018-53 MSS2018-33 |
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| 抄録 | （和） | 近年，急速なIoT (Internet of Things) 化により，日常の様々なものに組込みハードウェアが利用されている．組込みハードウェアの需要増加により安価な大量生産が求められるとともに製造拠点は国際化し，ハードウェアベンダは設計や製造の一部を第三者に委託するようになった． これにより悪意の回路 (ハードウェアトロイ) がハードウェアに挿入される危険性が増大している．本稿ではゲートレベルにおいてトリガ条件の異なる6種類のハードウェアトロイを設計する．さらに，設計したハードウェアトロイを通常回路に挿入し，これをニューラルネットワーク(NN)を用いて検出する．実験では，ハードウェアトロイの挿入箇所が既知となる回路をNNで学習し，学習したNNを用いて，設計したハードウェアトロイが挿入された回路を交差検証した．その結果，平均TPR (True Positive Rate) 70%，平均TNR (True Negative Rate) 90%を超える結果を得た |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | ハードウェアトロイ / デザインタイム / ゲートレベルネットリスト / 機械学習 / ニューラルネットワーク / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 83, VLD2018-36, pp. 173-178, 2018年6月. | |
| 資料番号 | VLD2018-36 | |
| 発行日 | 2018-06-07 (CAS, VLD, SIP, MSS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2018-33 VLD2018-36 SIP2018-53 MSS2018-33 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CAS SIP MSS VLD |
| 開催期間 | 2018-06-14 - 2018-06-15 |
| 開催地（和） | 北海道大学フロンティア応用科学研究棟 |
| 開催地（英） | Hokkaido Univ. (Frontier Research in Applied Sciences Build.) |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | System and Signal Processing, etc |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2018-06-CAS-SIP-MSS-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 亜種ハードウェアトロイの設計とそのニューラルネットワークを用いた検出 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | * |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ハードウェアトロイ / |
| キーワード(2)（和/英） | デザインタイム / |
| キーワード(3)（和/英） | ゲートレベルネットリスト / |
| キーワード(4)（和/英） | 機械学習 / |
| キーワード(5)（和/英） | ニューラルネットワーク / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智貴 / Tomotaka Inoue / イノウエ トモタカ |
| 第1著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 健人 / Kento Hasegawa / ハセガワ ケント |
| 第2著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 悠記 / Yuki Kobayashi / コバヤシ ユウキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC (略称： NEC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa / ヤナギサワ マサオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 戸川 望 / Nozomu Togawa / トガワ ノゾム |
| 第5著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-06-15 16:25:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | CAS2018-33, VLD2018-36, SIP2018-53, MSS2018-33 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.82(CAS), no.83(VLD), no.84(SIP), no.85(MSS) |
| ページ範囲 | pp.173-178 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-06-07 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
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