| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2018-07-27 13:00
コネクタのトルク値が接触境界の等価回路に与える影響評価 ○成松 貴・藤本大介・林 優一(奈良先端大) EMCJ2018-26 |
| 抄録 |
(和) |
トルク管理などが十分に管理されない状況下において、相互接続部であるコネクタに接触不良が生じた場合、局所的にイミュニティが低下し機器周辺の電磁環境を劣化させる可能性がある。過去の報告にてコネクタの接触不良によって寄生インダクタンスが増加し、放射電磁雑音を増加させることが示されている。しかし、コネクタのトルク値の変化が周辺の電磁環境に与える影響については十分に議論されていない。そこで、本報告は、コネクタのトルク値を変化させた状態で接触境界における周波数特性の関係とコネクタ周囲の電流分布を測定することで、コネクタのトルク値の変化が周辺の電磁環境に対して与える影響を評価し、コネクタの構造から変化の要因を考察する。 |
| (英) |
In a situation where the torque management is insufficient, contact failure could occur in the connector as the interconnection portion. Contact failure locally reduces the immunity and degrades the electromagnetic environment around the equipment. It has been shown in previous reports that parasitic inductance increases due to contact failure of connectors and increases radiated electromagnetic noise. However, few reports are available on the effect of the change in the torque value of the connector on the surrounding electromagnetic environment. In this paper, when the torque value of the connector is changed, the circuit response and the near field at the contact boundary are measured. Based on these results, we discuss the influence of the change in torque value on the electromagnetic environment around the connector. |
| キーワード |
(和) |
コネクタ接触不良 / 電磁妨害 / TDR / / / / / |
| (英) |
Contact failure of connector / EMI / TDR / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 118, no. 162, EMCJ2018-26, pp. 25-29, 2018年7月. |
| 資料番号 |
EMCJ2018-26 |
| 発行日 |
2018-07-20 (EMCJ) |
| ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
EMCJ2018-26 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
EMCJ |
| 開催期間 |
2018-07-27 - 2018-07-27 |
| 開催地(和) |
機械振興会館 |
| 開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ(和) |
若手研究者発表会 |
| テーマ(英) |
Young Scientist Meeting |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
EMCJ |
| 会議コード |
2018-07-EMCJ |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
コネクタのトルク値が接触境界の等価回路に与える影響評価 |
| サブタイトル(和) |
|
| タイトル(英) |
Study on the effect of torque value at connector on equivalent circuit of contact boundary |
| サブタイトル(英) |
|
| キーワード(1)(和/英) |
コネクタ接触不良 / Contact failure of connector |
| キーワード(2)(和/英) |
電磁妨害 / EMI |
| キーワード(3)(和/英) |
TDR / TDR |
| キーワード(4)(和/英) |
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| キーワード(5)(和/英) |
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| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
成松 貴 / Takashi Narimatsu / ナリマツ タカシ |
| 第1著者 所属(和/英) |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ |
| 第2著者 所属(和/英) |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第3著者 所属(和/英) |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2018-07-27 13:00:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
EMCJ |
| 資料番号 |
EMCJ2018-26 |
| 巻番号(vol) |
vol.118 |
| 号番号(no) |
no.162 |
| ページ範囲 |
pp.25-29 |
| ページ数 |
5 |
| 発行日 |
2018-07-20 (EMCJ) |