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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-09-21 15:00 平衡形円板共振器法用誘電体測定装置に関する検討 ○小林禧夫・小林創太郎（サムテック）  MW2018-67 |
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| 抄録 | （和） | 平衡形円板共振器法は、マイクロ波・ミリ波帯における誘電体基板の垂直方向の複素誘電率測定に有効である。筆者らは、これまで測定周波数範囲1~10GHz, 3~26GHz, 7~67GHz, 15~110GHz帯測定用に開発された４種類の誘電体測定装置を用いて、種々の誘電体基板の常温測定結果及び温度依存性測定結果を発表してきた。本報告は、これらの装置の有効性及び測定限界を測定精度の観点から検討し、今後の新装置開発のために考慮すべき問題点を明らかにする。 |
| （英） | Balanced-type disk resonator method is useful to measure the complex permittivity in the normal direction of dielectric substrates at the microwave and millimeter-wave frequency. Authors have been presented many papers on measured results in room temperature and their temperature dependences, by using four types of measurement apparatus developed for measurements in the frequency ranges 1~10GHz, 3~26GHz, 7~67GHz, and 15~110GHz. In this report, discussion on these apparatus are presented in the point of view on measurement accuracy and some problems are discussed to be solved for new apparatus development. | |
| キーワード | （和） | マイクロ波回路 / ミリ波回路 / 誘電体基板 / 材料測定 / / / / |
| （英） | Microwave circuit / Millimeter-wave circuit / Dielectric substrate / Material measurement / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 218, MW2018-67, pp. 45-48, 2018年9月. | |
| 資料番号 | MW2018-67 | |
| 発行日 | 2018-09-13 (MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2018-67 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | AP MW |
| 開催期間 | 2018-09-20 - 2018-09-21 |
| 開催地（和） | 東京工業大学 |
| 開催地（英） | Tokyo Tech |
| テーマ（和） | マイクロ波・ミリ波，測定技術，一般 |
| テーマ（英） | Microwave, Millimeter wave, Measurement, Antennas and Propagation |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2018-09-AP-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 平衡形円板共振器法用誘電体測定装置に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Discussions on Dielectric Measurement Apparatus for Balanced-Type Disk Resonator Method |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | マイクロ波回路 / Microwave circuit |
| キーワード(2)（和/英） | ミリ波回路 / Millimeter-wave circuit |
| キーワード(3)（和/英） | 誘電体基板 / Dielectric substrate |
| キーワード(4)（和/英） | 材料測定 / Material measurement |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi / コバヤシ ヨシオ |
| 第1著者 所属（和/英） | サムテック有限会社 (略称： サムテック) SUMTEC, Inc. (略称： SUMTEC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 創太郎 / Sotaro Kobayashi / コバヤシ ソウタロウ |
| 第2著者 所属（和/英） | サムテック有限会社 (略称： サムテック) SUMTEC, Inc. (略称： SUMTEC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-09-21 15:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2018-67 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.218 |
| ページ範囲 | pp.45-48 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2018-09-13 (MW) |
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