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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-12-06 13:50 自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討 ○谷口公貴・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）  VLD2018-58 DC2018-44 |
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| 抄録 | （和） | 集積回路の高集積化に伴い，回路内において微小遅延故障が顕在化している．微小遅延故障の検査手法として，TDC(Time-to-Digital Converter)機構を用いる遅延故障のサイズを測定する手法が挙げられる．しかし，大規模な回路の検査に用いられるテストパターンを自動生成する際には，遅延故障のサイズは考慮されていない．本論文ではATPGツールにより生成したパターンを適用した際に測定できる遅延故障のサイズをシミュレーションによって調査し，TDC機構を用いた回路による複数経路検査の可能性について評価を行う． |
| （英） | With high integration of IC, small delay faults have occurred as the cause of a circuit failure. As a design-for-testability (DFT) method for delay testing，a measurement method for delay fault size using TDC mechanism has been proposed. However, conventional automatic test pattern generator tools (ATPG) do not take account of delay fault size. In this paper, we investigate delay fault size by circuit simulation using given ATPG pattern and evaluate the feasibility of testing multiple paths by the TDC embedded circuit. | |
| キーワード | （和） | 微小遅延故障 / TDC / 遅延故障検査 / ATPG / / / / |
| （英） | small delay fault / TDC / test for delay fault / ATPG / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 335, DC2018-44, pp. 131-136, 2018年12月. | |
| 資料番号 | DC2018-44 | |
| 発行日 | 2018-11-28 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2018-58 DC2018-44 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2018-12-05 - 2018-12-07 |
| 開催地（和） | サテライトキャンパスひろしま |
| 開催地（英） | Satellite Campus Hiroshima |
| テーマ（和） | デザインガイア2018 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2018 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2018-12-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study on the Applicability of ATPG Pattern for DFT Circuit |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 微小遅延故障 / small delay fault |
| キーワード(2)（和/英） | TDC / TDC |
| キーワード(3)（和/英） | 遅延故障検査 / test for delay fault |
| キーワード(4)（和/英） | ATPG / ATPG |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 谷口 公貴 / Kohki Taniguchi / タニグチ コウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-12-06 13:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2018-58, DC2018-44 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.334(VLD), no.335(DC) |
| ページ範囲 | pp.131-136 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-11-28 (VLD, DC) |
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