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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-12-07 13:45 遅延を抑えたスタック構造によるSOIプロセス向け耐ソフトエラーFFの提案および実測評価 ○榎原光則・山田晃大・古田 潤・小林和淑（京都工繊大）  VLD2018-69 DC2018-55 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
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| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 334, VLD2018-69, pp. 203-208, 2018年12月. | |
| 資料番号 | VLD2018-69 | |
| 発行日 | 2018-11-28 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2018-69 DC2018-55 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2018-12-05 - 2018-12-07 |
| 開催地（和） | サテライトキャンパスひろしま |
| 開催地（英） | Satellite Campus Hiroshima |
| テーマ（和） | デザインガイア2018 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2018 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2018-12-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 遅延を抑えたスタック構造によるSOIプロセス向け耐ソフトエラーFFの提案および実測評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Radiation-hard Low-delay Flip-Flop with Stacking Structure for SOI Process |
| サブタイトル（英） | |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 榎原 光則 / Mitsunori Ebara / エバラ ミツノリ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山田 晃大 / Kodai Yamada / ヤマダ コウダイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 古田 潤 / Jun Furuta / フルタ ジュン |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-12-07 13:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2018-69, DC2018-55 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.334(VLD), no.335(DC) |
| ページ範囲 | pp.203-208 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-11-28 (VLD, DC) |
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