講演抄録/キーワード |
講演名 |
2018-12-17 14:30
[招待講演]テラヘルツ放射分光・イメージングによる半導体材料・デバイス評価 ○川山 巌(阪大) ED2018-56 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2018-56 |
抄録 |
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文献情報 |
信学技報, vol. 118, no. 368, ED2018-56, pp. 11-14, 2018年12月. |
資料番号 |
ED2018-56 |
発行日 |
2018-12-10 (ED) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
ED2018-56 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2018-56 |
研究会情報 |
研究会 |
ED THz |
開催期間 |
2018-12-17 - 2018-12-18 |
開催地(和) |
東北大・通研 |
開催地(英) |
RIEC, Tohoku Univ. |
テーマ(和) |
ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム |
テーマ(英) |
Millimeter-wave, terahertz-wave devices and systems |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ED |
会議コード |
2018-12-ED-THz |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
テラヘルツ放射分光・イメージングによる半導体材料・デバイス評価 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Evaluation of semiconductor materials and devices by terahertz emission spectroscopy and imaging |
サブタイトル(英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
川山 巌 / Iwao Kawayama / カワヤマ イワオ |
第1著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2018-12-17 14:30:00 |
発表時間 |
40分 |
申込先研究会 |
ED |
資料番号 |
ED2018-56 |
巻番号(vol) |
vol.118 |
号番号(no) |
no.368 |
ページ範囲 |
pp.11-14 |
ページ数 |
4 |
発行日 |
2018-12-10 (ED) |
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