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講演抄録/キーワード
講演名 2019-01-23 11:25
高エネルギー分解能RIXS用超伝導ナノストリップX線検出器の開発
浮辺雅宏渡邉千春全 伸幸藤井 剛牧瀬圭正大久保雅隆産総研)・テーフー リーディージー ホアン台湾放射光研SCE2018-28 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2018-28
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文献情報 信学技報, vol. 118, no. 415, SCE2018-28, pp. 17-21, 2019年1月.
資料番号 SCE2018-28 
発行日 2019-01-16 (SCE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SCE2018-28 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2018-28

研究会情報
研究会 SCE  
開催期間 2019-01-23 - 2019-01-23 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英)  
テーマ(和) 信号処理基盤技術及び応用、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SCE 
会議コード 2019-01-SCE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 高エネルギー分解能RIXS用超伝導ナノストリップX線検出器の開発 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) DEVELOPMENT OF SUPERCONDUCTING NANOSTRIP X-RAY DETECTOR FOR HIGH-RESOLUTION RIXS 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 浮辺 雅宏 / Masahiro Ukibe / ウキベ マサヒロ
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
AIST (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡邉 千春 / Chiharu watanabe / ワタナ ベチハル
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
AIST (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 全 伸幸 / Nobuyuki Zen / ゼン ノブユキ
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
AIST (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤井 剛 / Go Fujii / フジイ ゴウ
第4著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
AIST (略称: AIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 牧瀬 圭正 / kazumasa makise / マキセ カズマサ
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
AIST (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 大久保 雅隆 / Masataka ohkubo / オオクボ マサタカ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
AIST (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) テーフー リー / Te-Hui Lee /
第7著者 所属(和/英) 台湾放射光研究所 (略称: 台湾放射光研)
National Synchrotron Radiation Research Center (略称: NSRRC)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) ディージー ホアン / Di-Jing Huang /
第8著者 所属(和/英) 台湾放射光研究所 (略称: 台湾放射光研)
National Synchrotron Radiation Research Center (略称: NSRRC)
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講演者 第1著者 
発表日時 2019-01-23 11:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SCE 
資料番号 SCE2018-28 
巻番号(vol) vol.118 
号番号(no) no.415 
ページ範囲 pp.17-21 
ページ数
発行日 2019-01-16 (SCE) 


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