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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2019-02-27 14:05 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 ○青野智己・Hanan T.Al-Awadhi・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス）  DC2018-79 |
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| 抄録 | （和） | 車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要となる．論理組込み自己テスト（LBIST）を用いたPOSTの実行時間の短縮化および故障検出率向上化のためには，マルチサイクルテストは一つの有効な方法である．しかしながら，マルチサイクルテストでは，キャプチャサイクルを増やすことによってキャプチャパターンのランダム性が減少し，故障検出に関する効果が低下することが問題となる．本稿では，まず，我々の従来研究で提案したマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出強化法「FFトグル制御ポイント挿入」[17]を説明する．次に，故障検出強化効果を高めるためのFFトグル制御ポイントの選択法を新たに提案する． |
| （英） | Multi-cycle Test is a promising way to reduce the test volume of Logic-BIST (Logic Built-in Self-Test) based POST (Power-on Self-Test) for achieving high fault coverage and shortening the TAT (Test Application Time). However, the randomness loss of the capture patterns due to the large number of capture cycles obstructs the further improvement of fault coverage. In this paper, we introduce a FF-CPI technique proposed in [19] to enhance the test quality of the capture patterns, and propose an improved selection method of FF candidates for FF-CPI. | |
| キーワード | （和） | POST / LBIST / マルチサイクルテスト / 機能安全規格 / ISO26262 / / / |
| （英） | POST / LBIST / Multi-cycle Test / Functional Safety / ISO26262 / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 456, DC2018-79, pp. 49-54, 2019年2月. | |
| 資料番号 | DC2018-79 | |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2018-79 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2019-02-27 - 2019-02-27 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2019-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | FF Toggle Control Point Selection Methods for Fault Detection Enhancement under Multi-cycle Testing |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | POST / POST |
| キーワード(2)（和/英） | LBIST / LBIST |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルテスト / Multi-cycle Test |
| キーワード(4)（和/英） | 機能安全規格 / Functional Safety |
| キーワード(5)（和/英） | ISO26262 / ISO26262 |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 青野 智己 / Tomoki Aono / アオノ トモキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | Hanan T.Al-Awadhi / Hanan T.Al-Awadhi / Hanan T.Al-Awadhi |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata / イワタ ヒロユキ |
| 第6著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Company (略称： Renesas) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 前田 洋一 / Yoichi Maeda / マエダ ヨウイチ |
| 第7著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Company (略称： Renesas) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松嶋 潤 / Jun Matsushima / マツシマ ジュン |
| 第8著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Company (略称： Renesas) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2019-02-27 14:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2018-79 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.456 |
| ページ範囲 | pp.49-54 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-02-20 (DC) |
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