| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2019-04-12 15:05
180nm CMOSプロセスを用いたPhysically Unclonable Functionsの実装と評価 ○汐﨑 充・久保田貴也・白畑正芳(立命館大)・堀 洋平・片下敏宏(産総研)・藤野 毅(立命館大) HWS2019-4 |
| 抄録 |
(和) |
現在,Physically Unclonable Function (PUF)の国際標準化が進められており,これまで明確に定められていなかったPUFの評価項目や評価手順に関する議論が行われている.このPUFの評価項目や評価手順を議論するための評価プラットフォームとしてArbiter-based PUF,Ring-Oscillator PUF,SRAM PUFといった既存PUFに加えて,本研究室で提案してきたMDR-ROM PUFを搭載したLSIチップを180nmプロセスで試作した.本発表では,各PUFを電源電圧±10%,動作温度-40~105℃で性能評価を行った実験結果を報告する. |
| (英) |
Evaluation items and evaluation schemes of Physically Unclonable Function (PUF) are discussed in international standardization activities. We designed a PUF Characterization Vehicle (PCV) test chip with 180nm CMOS process to enable benchmarking of PUFs. And, we evaluated six PUFs which are an arbiter PUF, an XOR arbiter PUF, a ring-oscillator PUF, an SRAM PUF and an MDR-ROM PUF, in the PCV test chip. This paper presents comparison results under 35 different environmental conditions (voltage range: 1.6~2.0V, temperature range: -40~105℃). |
| キーワード |
(和) |
Physically Unclonable Function (PUF) / Arbiter-based PUF / Ring-Oscillator PUF / SRAM PUF / MDR-ROM / / / |
| (英) |
Physically Unclonable Function (PUF) / Arbiter-based PUF / Ring-Oscillator PUF / SRAM PUF / MDR-ROM / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 2, HWS2019-4, pp. 19-24, 2019年4月. |
| 資料番号 |
HWS2019-4 |
| 発行日 |
2019-04-05 (HWS) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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HWS2019-4 |